電気特性検査の製品一覧

全 24 件 見つかりました。

• 

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  ダイソーター (PM38)

  半導体、光センサー、集積回路向けに、ウェハ入力、電気機能テスト、刺激テスト、6面ビジョン検査、ソーティング、テープ＆リールなどの包括的な機能を備えた完全なターンキーソリューションを提供します。
  
  【主な特徴】
  ●ダイナミックフォースコントロール機能
  ●マップファイル統合機能
  ●柔軟な入出力設定
  ●幅広いテストとビジョン機能
  ●完全なターンキーソリューション

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  ストレートスルー　テスト接触ソリューション TRI温度のケルビンおよび非ケルビン試験用　ソケット (Alpha)

  大量生産テスト環境における数十万個のICパッケージ挿入に対応
  
  【主な特徴】
  ●ショートワイピングストローク（SWS）技術
  ●多用途でコスト効率に優れています
  ●アドバンス・コンタクト・フィニッシュ（ACF）技術
  ●サーマル・コンディショニング・チャンネル（TCC）テクノロジー

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  資料ダウンロード

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  テスト接触ソリューション　精密温度試験用 オフセット 自動車/ハイパワー ソケット (Gamma)

  中電力から高電力テストアプリケーションまでのミックスシグナルおよび車載IC向けの業界をリードする高精度サーマルコンタクトソリューション
  
  Gamma™ : オフセット（ICパッケージとロードボードの両端が垂直になっていない状態） 高性能テスト用接触ソリューションで、ラボでの初期特性評価から量産テスト環境まで対応します。

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  資料ダウンロード

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  テスト接触ソリューション　3温度非ケルビン試験用 (THOR)

  大量生産テスト環境を通じて設計および検証されています。
  
  取り付けが簡単になり、破片が最小限に抑えられ、清掃の必要性が長くなり、メンテナンスの時間とコストが最小限に抑えられます。

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  資料ダウンロード

• 

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  VIPER 既存テスターのテスト機能拡張 (.)

  半導体およびエレクトロニクス市場向けに、総所有コスト（TCO）と市場投入までの時間（Time to Market）を削減するテスト・ソリューションの新しい設計方法を提供
  
  【VIPER機能】
  ●192チャンネル/VIPER
  ●6つの設定可能なテストオプション
  など

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

• 

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  VIPER 次世代テスト＆計測ソリューション&Spike Detector (.)

  モノのインターネットの波に注目したVIPERの次世代テスト＆計測ソリューション&Spike Detector
  
  テスト・セル構成の制約を超えた最も効果的なテスト・ソリューションを設計することができ、最小のテスト・コスト（CoT）で1時間あたりのテスト・ユニット（UPH）を向上させることができます。

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  ポゴタワー平面性 + ピン圧縮測定ツール (.)

  .
  
  【主な特徴】
  ● 簡単操作
  ● 66 x 48 mm タッチスクリーンディスプレイ
  ● 頑丈なプラスチック製ハウジング
  ● 対角/交差測定用4距離センサー

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  資料ダウンロード

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  機械テストヘッドハウジング (（お客様の仕様に合わせたデザイン）)

  マニピュレーター一体型
  
  .

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  資料ダウンロード

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  テストヘッドハウジング 光学検査用テストヘッドハウジング (（お客様の仕様に合わせたデザイン）)

  標準的な19インチインサートを取り付け、DUTボードに接続可能。DUTボードは必要に応じてカスタマイズできます。
  
  ● 標準19インチインサート用キャリアと取り付けポイント
  ● 電源とEMOスイッチ
  ● 温度制御ファンユニット

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  資料ダウンロード

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  テストソケット (（お客様の仕様に合わせたデザイン）)

  .
  
  .

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  資料ダウンロード

New Products 最近追加された製品

• 

  UVライト硬化チャンバー (RAYVEN QUAD)

  ウェーブクレスト株式会社

• 

  Inverter Test System (ITS)

  日本ナショナルインスツルメンツ（日本電計）

• 

  モーター評価サービス (テストベンチ)

  日本電計株式会社

• 

  光コム多点同時振動計 (OptoComb MPV (Multi-Points Vibrometer))

  株式会社OptoComb

• 

  A-PHY対応デシリアライザボード (API-7044-FT)

  株式会社ネットビジョン

• 

  Analog Devices社 GMSL評価Kit用接続ボード (NV061-R, -Q)

  株式会社ネットビジョン

• 

  マニピュレータ 個別装置 (atlas)

  ウェーブクレスト株式会社

• 

  ユニバーサルマニピュレータ (orion / pluto)

  ウェーブクレスト株式会社

prev next

計測・試験機器総合
Web展用語集

用語集キーワード検索

頭文字検索

• ア
• イ
• ウ
• エ
• オ
• カ
• キ
• ク
• ケ
• コ
• サ
• シ
• ス
• セ
• ソ
• タ
• チ
• テ
• ト
• ナ
• ニ
• ネ
• ノ
• ハ
• ヒ
• フ
• ヘ
• ホ
• マ
• ミ
• ム
• メ
• モ
• ユ
• ラ
• リ
• ル
• レ
• ロ
• A
• B
• C
• D
• E
• F
• G
• H
• I
• J
• L
• M
• N
• O
• P
• Q
• R
• S
• T
• U
• V
• W
• X
• Z
• 3
• 4
• 6

新着計測器用語

• LDP
• CQD
• LoRaWAN
• EVM
• レゾルバ

用語集ランキング

• 校正電圧（CAL）
• 4端子抵抗測定法
• CIEDE2000色差式
• エリアジング
• 固有誤差
• サバール板
• CIE標準分光視感効率
• 曲線因子
• IC開封装置
• 許容信号源抵抗
• プリトリガ
• レクタンギュラ窓（矩形窓）
• 振動速度・振幅・加速度
• FTA
• CIE標準イルミナント

Web展用語集を見る