Products List 製品一覧(寸法計測)
寸法計測の製品一覧
全 18 件 見つかりました。
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
ナノ3D光干渉計測システム (VS1330)
粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm~。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
ナノ3D光干渉計測システム (VS1800)
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
中型プローブ顕微鏡システム(SPM) (AFM5500M)
より正確なナノ3D計測
広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
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ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/17
【ライカ】Ivesta 3 Fusion Optics グリーノ実体顕微鏡 (Ivesta 3E / Ivesta 3D / Ivesta 3 i(4Kカメラ内蔵タイプ))
驚きの立体感。スペックがすごいだけじゃない。 「もっと見えて、疲れない」実体顕微鏡での「基板修理」や「金属部品の傷検査」の効率のアップ!
実績あるライカ特許技術FusionOpticsをエントリーモデルにも搭載。アポクロマート補正レンズに9倍ズーム。 焦点深度は従来のS6 Eの約3倍に増加。 作業スペースも122mmと広く、視野も広くなりました。ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/17
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ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/15
【ライカ】4K デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)
品質管理・外観検査のための Emspira3。 パソコン本体不要!モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なPCレスデジタルマイクロスコープ。
EmspiraはPCレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/15
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株式会社ニコンインステック |最終更新日:2025/04/08
【ニコン】コンフォーカル画像測定システムのご紹介 (NEXIV VMZ-K3040 / K6555)
コンフォーカルNEXIVでは明視野測定で不明瞭な画像でも3D形状より測定が可能なため、正確な測定形状評価/測定/ 検査を行えます。また、視野内一括測定による高速測定が実現できます。
従来の画像測定機では測定箇所ごとにオートフォーカス、測定検出を行うのに対し、コンフ ォーカルNEXIVでは数秒で視野内の3D形状を取得し、視野内の任意の高さ測定に加えて 2D測定も同時に行うことができます。株式会社ニコンインステック |最終更新日:2025/04/08