Semiconductor Inspection
半導体産業展の
カテゴリ一覧
最新の半導体検査・評価に関するあらゆる製品が一堂に会する専門Web展示会。Si半導体やダイヤモンド(C）、シリコンカーバイド（SiC）を使用したワイドバンドギャップ半導体から半導体を用いたパワーデバイスの検査や評価に関連した技術が揃い、比較検討の為の情報収集に便利です。
注目の製品
- 電気特性検査(24)
- 赤外分光法（FTIR）(4)
- 熱伝導率測定(1)
- 熱膨張測定(1)
- 熱サイクル試験(4)
- 外観検査(13)
- 寸法計測(16)
- 重ね合わせ検査(2)
- 欠陥検査(5)
- パッケージ検査(1)
- マニピュレータ(23)
- ICハンドラ(17)
