Semiconductor Inspection
半導体産業展の
カテゴリ一覧
最新の半導体検査・評価に関するあらゆる製品が一堂に会する専門Web展示会。Si半導体やダイヤモンド(C）、シリコンカーバイド（SiC）を使用したワイドバンドギャップ半導体から半導体を用いたパワーデバイスの検査や評価に関連した技術が揃い、比較検討の為の情報収集に便利です。
注目の製品
- 電気特性検査(20)
- 抵抗測定(1)
- 走査型電子顕微鏡（SEM）(1)
- 赤外分光法（FTIR）(4)
- 熱サイクル試験(3)
- 外観検査(15)
- 寸法計測(18)
- 膜厚測定(2)
- 重ね合わせ検査(2)
- 欠陥検査(10)
- パッケージ検査(1)
- マニピュレータ(3)
- ICハンドラ(6)
半導体産業展に関するニュース
New Products 最近追加された製品
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インパルス巻き線試験機 (ST-1K)
ウェーブクレスト株式会社
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3D光学プロファイロメーター (HPS-DBL60S)
ウェーブクレスト株式会社
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外部センサー入力型 デジタルハンディタコメータ (HT-6200)
株式会社小野測器
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モーター&エンジン回転計 (CT-6710)
株式会社小野測器
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近赤外線対応デジタルカメラ GFX100 II IR (GFX100 II IR )
富士フイルムイメージングシステムズ株式会社
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積層情報表示灯 (LA6-POE)
株式会社パトライト
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積層信号灯（Φ60）シグナル・タワー LR6（M12コネクタ仕様） (LR6シリーズ)
株式会社パトライト
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FASTCAM Mini Rシリーズ (FASTCAM Mini R5-4K)
株式会社フォトロン
