温度、周波数特性に対するコンデンサのパラメータを自動収録
環境試験装置の温度ステップ制御の自動化と、コンデンサの静電容量、誘電正接(tanδ)、インピダンスの多チャンネル測定の自動化を実現しました。これにより、任意の温度環境下での周波数特性や経時変化を自動データ収録することができます。また、コンデンサの特性評価のみならず、各種電子部品やプリント基板、絶縁材料の評価にも幅広くご利用いただけます。
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環境試験装置の温度ステップ制御の自動化と、コンデンサの静電容量、誘電正接(tanδ)、インピダンスの多チャンネル測定の自動化を実現しました。これにより、任意の温度環境下での周波数特性や経時変化を自動データ収録することができます。また、コンデンサの特性評価のみならず、各種電子部品やプリント基板、絶縁材料の評価にも幅広くご利用いただけます。
◆ 温度特性評価試験: 40ステップまでの温度変化と同期させ、特性データの自動収録を行うことができます。
◆ 周波数特性評価試験: 温度・湿度環境下で、周波数を変化させながら各周波数における特性データを自動収録することができます。
◆ 寿命特性(定値運転)試験: 温度・湿度環境下で、特性の時間的変化を自動にて測定、データ収録することができます。
温度環境下において静電容量(C)、損失係数(D)、インピーダンス(Z)の多チャネル測定が行えます。
チャネル構成は標準で8チャネルを備え、最大64チャネルまで増設できます。
MLCCや電解コンデンサをはじめ、サンプル形状に合わせたディスクリート専用治具をご提案いたします。