絶縁抵抗／漏れ電流測定の評価をより正確に
AI、5G、データセンターなどの進化を背景に、基板配線技術は低電圧から高電圧まで幅広く絶縁信頼性の向上が重要視されています。 これらの評価を、より高精度に効率よく連続モニターを行うことができるシステムです。エレクトロケミカルマイグレーションをはじめとした電子部品の寿命評価、絶縁抵抗評価（リーク電流測定）を効率的かつ容易に行えます。
エスペック株式会社 エレクトロケミカルマイグレーション 評価システム (AMI)
エレクトロケミカルマイグレーション 評価システムの特長
主な仕様 ＜ストレス定電圧100V仕様＞
主な特長
◆ 抵抗測定にスキャナ方式を採用
1台の測定器で複数チャネルの測定を行います。（150ch/台）
全チャネルに測定回路をもつ個別測定方式と比べ、信頼性が高く精密な絶縁抵抗の測定が可能です。
◆ 独自設計のリークタッチ検出回路
エレクトロケミカルマイグレーションによって生じたデンドライトは、やがて電極間を短絡させます。
しかし発生初期の細い状態のデンドライトは自身が焼損するため、抵抗値が瞬間的に低下後、元に戻ります。
このリークタッチ現象を検出するため、測定回路とは別に、抵抗値劣化を常時監視する回路を全チャネルに持たせています。
接続用治具（オプション）
環境試験のノウハウを活かし、最適な治具をご提案いたします。
試料とケーブルの接続を容易にし、効率良く試験を行うことができます。
HAST＋AMIを用いた絶縁抵抗試験例
高温高湿試験では1000h経過後もマイグレーションが発生しない材料に関しても、
HASTを使用することで、短時間でマイグレーション現象の発生を検出可能です。
またAMIのワイブルプロット機能により、適切な加速性を確認することができます。
開発中機能
主な仕様 ＜ストレス定電圧100V仕様＞
主な特長
◆ 抵抗測定にスキャナ方式を採用
1台の測定器で複数チャネルの測定を行います。（150ch/台）
全チャネルに測定回路をもつ個別測定方式と比べ、信頼性が高く精密な絶縁抵抗の測定が可能です。
◆ 独自設計のリークタッチ検出回路
エレクトロケミカルマイグレーションによって生じたデンドライトは、やがて電極間を短絡させます。
しかし発生初期の細い状態のデンドライトは自身が焼損するため、抵抗値が瞬間的に低下後、元に戻ります。
このリークタッチ現象を検出するため、測定回路とは別に、抵抗値劣化を常時監視する回路を全チャネルに持たせています。
接続用治具（オプション）
環境試験のノウハウを活かし、最適な治具をご提案いたします。
試料とケーブルの接続を容易にし、効率良く試験を行うことができます。
HAST＋AMIを用いた絶縁抵抗試験例
高温高湿試験では1000h経過後もマイグレーションが発生しない材料に関しても、
HASTを使用することで、短時間でマイグレーション現象の発生を検出可能です。
またAMIのワイブルプロット機能により、適切な加速性を確認することができます。
開発中機能
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出展企業情報
- 企業名
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エスペック株式会社
- 企業PR
- エスペックは、最先端技術の発展を支える「環境試験器」の世界トップメーカーです。充実のグローバルネットワークで、世界中のお客さまに高品質の製品やサービスをお届けしています。また、多彩な製品・サービスでお客さまの視点に立った環境試験のトータルソリューションを提供しています。
