Products List 製品一覧(欠陥検査)

欠陥検査の製品一覧

全 5 件見つかりました。

資料ダウンロード

ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/17

【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)

ルーチンの品質管理を高精度、容易にコンタミネーション（残留異物）解析システム

ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。

ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/17

資料ダウンロード
資料ダウンロード

ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/17

【ライカ】Ivesta 3 Fusion Optics グリーノ実体顕微鏡 (Ivesta 3E ／ Ivesta 3D ／ Ivesta 3 i（4Kカメラ内蔵タイプ）)

驚きの立体感。スペックがすごいだけじゃない。「もっと見えて、疲れない」実体顕微鏡での「基板修理」や「金属部品の傷検査」の効率のアップ！

実績あるライカ特許技術FusionOpticsをエントリーモデルにも搭載。アポクロマート補正レンズに9倍ズーム。焦点深度は従来のS6 Eの約3倍に増加。作業スペースも122mmと広く、視野も広くなりました。

ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/17

資料ダウンロード
資料ダウンロード

ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/15

【ライカ】4K　デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)

品質管理・外観検査のための Emspira3。　パソコン本体不要！モニタ直結で4Kライブ表示、画像保存、測定まで可能なＰＣレスデジタルマイクロスコープ。

EmspiraはＰＣレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有することができます。

ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/15

資料ダウンロード
資料ダウンロード

コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社｜最終更新日：2023/08/08

YXLON（エクスロン） (Cheetah EVO )

最高のX線検査装置アセンブリ／ラボ検査で優れた拡張性発揮

YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。

コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社｜最終更新日：2023/08/08

資料ダウンロード
コニカミノルタジャパン株式会社｜最終更新日：2017/03/30

分光測色計 (CM-M6)

実車測定で威力を発揮する「マルチアングル」モデルの分光測色計

本測定器は自動車外装測定で抜群の威力を発揮する、6角度マルチアングルモデルの分光測色計です。曲面や小面積なサンプルでも高精度、且つ簡単に測定できます。

コニカミノルタジャパン株式会社｜最終更新日：2017/03/30