Products List 製品一覧(顕微鏡)

顕微鏡の製品一覧

全 38 件見つかりました。

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株式会社フローベル｜最終更新日：2025/07/02

６インチステージ両面顕微鏡表裏位置ずれ計測システム (TOMOS-60)

表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

◆6インチＸＹステージを搭載！ ◆水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ ◆表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ ◆±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（被写体や環境条件により異なる） ◆表裏２ｃｈオートフォーカスユニット組み合わせ可能！（オプション）

株式会社フローベル｜最終更新日：2025/07/02

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株式会社フローベル｜最終更新日：2025/07/02

6インチ電動XYステージ両面顕微鏡　表裏位置ずれ計測システム (TOMOS-60XY)

両面顕微鏡計測システム電動ＸＹステージとオートフォーカス機能を搭載

◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 ◆6インチウエハー　XY電動ステージ

株式会社フローベル｜最終更新日：2025/07/02

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株式会社フローベル｜最終更新日：2025/07/02

8インチXY電動ステージ制御　両面顕微鏡　表裏位置ずれ計測システム (TOMOS-80XY)

ウエハー表裏面のアライメントマークの表裏位置ずれ計測、自動検査システム

◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。

株式会社フローベル｜最終更新日：2025/07/02
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ハルツォク・ジャパン株式会社｜最終更新日：2025/05/12

電解試料研磨機『ELOPREP-102』 (エロプレップ-102)

試料の電解研磨、エッチングを簡単、安全に行えます。

ELOPREP-102は電解研磨装置です。試料研磨後の仕上処理として電解研磨、エッチングを行えます。

ハルツォク・ジャパン株式会社｜最終更新日：2025/05/12

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ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/17

【ライカ】Ivesta 3 Fusion Optics グリーノ実体顕微鏡 (Ivesta 3E ／ Ivesta 3D ／ Ivesta 3 i（4Kカメラ内蔵タイプ）)

驚きの立体感。スペックがすごいだけじゃない。「もっと見えて、疲れない」実体顕微鏡での「基板修理」や「金属部品の傷検査」の効率のアップ！

実績あるライカ特許技術FusionOpticsをエントリーモデルにも搭載。アポクロマート補正レンズに9倍ズーム。焦点深度は従来のS6 Eの約3倍に増加。作業スペースも122mmと広く、視野も広くなりました。

ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/17

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ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/15

【ライカ】4K　デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)

品質管理・外観検査のための Emspira3。　パソコン本体不要！モニタ直結で4Kライブ表示、画像保存、測定まで可能なＰＣレスデジタルマイクロスコープ。

EmspiraはＰＣレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有することができます。

ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2025/04/15

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# ４Ｋデジタルマイクロスコープ # ＰＣレス # 安価マイクロスコープ # 計測 # 操作簡単 # デジタルマイクロスコープ
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株式会社ニコンインステック｜最終更新日：2025/04/08

【ニコン】コンフォーカル画像測定システムのご紹介 (NEXIV VMZ-K3040 / K6555)

コンフォーカルNEXIVでは明視野測定で不明瞭な画像でも3D形状より測定が可能なため、正確な測定形状評価/測定/ 検査を行えます。また、視野内一括測定による高速測定が実現できます。

従来の画像測定機では測定箇所ごとにオートフォーカス、測定検出を行うのに対し、コンフォーカルNEXIVでは数秒で視野内の3D形状を取得し、視野内の任意の高さ測定に加えて２D測定も同時に行うことができます。

株式会社ニコンインステック｜最終更新日：2025/04/08

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日本電子株式会社｜最終更新日：2025/04/08

卓上走査電子顕微鏡 (JCM-7000)

光学像からSEM観察、元素分析まで、高い操作の壁を破る卓上SEM

①Zeromag　光学像を拡大するとSEM像に切り替わります　②Live analysis 観察中の視野の主元素がわかります　③Live 3D　SEM像と3D画像を、Liveで2画面表示することができます　（代理店：日本電計（株）と共同出展）

日本電子株式会社｜最終更新日：2025/04/08
日本カンタム・デザイン株式会社｜最終更新日：2025/04/08

原子間力走査型電子顕微鏡 (FusionScope)

AFMとSEMのコンビネーションによるIn-situ測定

AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。

日本カンタム・デザイン株式会社｜最終更新日：2025/04/08
株式会社エビデント｜最終更新日：2025/04/07

3D測定レーザー顕微鏡 (OLS5100)

洗礼されたツールで、測定・解析を迅速に

高い光学性能による"正確な測定"という特徴に加え、"実証実験で発生した煩雑なデータ管理による手戻りを防止"する【実験トータルアシスト】と"粗さ測定において誤った条件によるデータ取得によって発生していた測定ミス"を回避する【スマートレンズアドバイザー】を新たに搭載！従来機において測定の手戻り、粗さ測定ミスによって発生していた作業効率を30%削減することを実現しております。

株式会社エビデント｜最終更新日：2025/04/07