デジタルマイクロスコープの製品一覧

全 43 件 見つかりました。

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/10/24

  【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)

  ルーチンの品質管理を高精度、容易に コンタミネーション（残留異物）解析システム
  
  ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/10/24

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  # 洗浄度 # ISO16232 # コンタミ解析 # ＶＤＡ１９ # 残渣検査 # パーティクル

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  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

  【斉藤光学】モニタ接続タイプ　ズーム式フルハイビジョンマイクロスコープ (SKM-Z300C-FHD2)

  人気製品のSKM-Z300C-FHDの後継機種！クリアで鮮やかな画像を、リアルタイムでモニタに表示！作業しやすい作動距離88㎜！
  
  モニタで観察するマイクロスコープです。 撮像素子の変更により、前機種より金属加工品の観察がし易くなりました。 光学4倍ズームを採用しているので、作動距離一定のまま(88ｍｍ)、画面倍率x42.5～x170で連続して可変できます。 オプションのコンバージョンレンズ（x0.5、x2.0）を装着すると画面倍率x21.25～x340まで幅広く観察できます。（作動距離150mmあるいは32mm一定）

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

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  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

  モニタ接続タイプ　ズーム式フルハイビジョンマイクロスコープ (SKM-Z200C-FHD2)

  クリアで鮮やかな画像を、リアルタイムでモニタに表示。 コンバージョンレンズ(2種：オプション)の利用で、42.5x～1020xまでをカバーする高倍率機種。
  
  研究機関や製品開発、品質管理部門での人気が高いマイクロスコープです。 オプション照明なども多く、組み合わせることで用途が広がる便利さも選ばれる理由の一つです。

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

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  # マイクロスコープ # デジタルマイクロスコープ # 表面観察 # 外観検査 # 顕微鏡

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  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

  【斉藤光学】リングライトLED照明(外径φ83㎜) (SKLS-A（SKM-Z200,300シリーズに標準付属）)

  見たいところに、最適な光を！4方向からの独立点灯ができる！
  
  マイクロスコープは「照明装置」で見え方が変わります。観察素材にあった様々な照明をご用意しております。 4方向からの独立点灯が可能なSKLS-A。観察物に合わせて、上下左右の照明が調整できるので、確実な検査ができます。

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

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  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

  【斉藤光学】LED拡散照明(自在ホルダ付） (SKLS-A-1)

  見たいところに、最適な光を！先端が尖っている観察物に！
  
  マイクロスコープは「照明装置」で見え方が変わります。観察素材にあった様々な照明をご用意しております。 ドリルの先端やボールペンなど先が尖っている観察物に有効です。

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

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  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/26

  【斉藤光学】ズーム式　USB3.0 マイクロスコープ (SKM-Z200C-PC4)

  滑らかな動きで、高画質な画像を実現！
  
  待望の新製品！ 画質の良さと作業性の高さを両立

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/26

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  # 新製品 # マイクロスコープ # USB3.0 # 外観検査 # 顕微鏡 # 表面観察 # デジタルマイクロスコープ

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  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/26

  【斉藤光学】USB3.0 パソコン接続タイプ　穴観察スコープ (SKM-W100B-PC3-B)

  穴観察用レンズで、穴の側面・底が同時に観察！
  
  SKM-W100B-PC3の後継機種。 照明の径が小さくなり、より見やすくなりました。 スコープを穴の中に入れなくても、穴の側面・底が同時に観察できます。

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/26

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  # マイクロスコープ

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  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/26

  【斉藤光学】穴観察用小径リングライトガイド (SKLG-R-A)

  見たいところに、最適な光を！穴底の観察に！
  
  マイクロスコープは「照明装置」で見え方が変わります。観察素材にあった様々な照明をご用意しております。 穴底の観察に適した穴観察用照明。 LED光源はオプション品です。

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/26

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1330)

  粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
  
  「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)

  光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
  
  光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

New Products 最近追加された製品

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  スペクトラムマスタ (MS2760A／MS2762A)

  アンリツ株式会社

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  ベクトルネットワークアナライザ (MS4640B Series)

  アンリツ株式会社

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  パルスカウンター LoRaWAN® (EM300-DI)

  ウェーブクレスト株式会社

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  レーダー距離/レベルセンサー LoRaWAN® (EM410-RDL )

  ウェーブクレスト株式会社

  # 非接触レーダー測定 # 高精度レーダー技術 # LoRaWAN®長距離通信 # クラウド連携対応 # 超低消費電力設計 # 簡単設置・ゼロメンテ # 屋外耐候性IP67 # 多用途フィールドIoT # タンク・河川・貯水池対応 # LoRaWANクラスA.B対応

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  MP5000シリーズ　モジュラ・プレシジョン・テスト・システム (MP5103)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク　ケースレーインスツルメンツ社

  # モジュール型計測システム # 高精度テスト # 自動計測システム # 電子機器評価 # 信号測定 # 試験自動化 # 製品検証 # 研究開発支援 # 測定ソリューション # ケースレーインスツルメンツ

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  R&S®MXO3 オシロスコープ (MXO3)

  ローデ･シュワルツ･ジャパン株式会社

  # オシロスコープ # MXO # デジタルオシロスコープ # プローブ

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  Nigel AIアドバイザ (-)

  日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計）

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  アース導通試験器 (TOS6210)

  菊水電子工業株式会社

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