産業用カメラ/レンズ | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

産業用カメラ/レンズの製品一覧

全19件見つかりました。

32ch風速温度スキャナー/小型風速温度センサ (ATVS-2020)

風速及び温度を最大32chまで測定することができるポータブルタイプの多点風速・温度測定システムです。超小型小型の各種風速温度センサを接続して容易に風速分布測定ができます。

センサの先端部で風速と温度を測定するので、精度の高いデータが得られます。多チャンネルという利点を生かし、風速・温度の交互測定の他、センサ2個をペアにして温度と風速の同時連続測定やユーザー指定のセンサ温度に基づく多点風速の１：N同時計測など用途に応じた多様な測定方法を選択することができます。

オープン価格

有限会社シスコム｜最終更新日：2024/04/25

超薄膜スクラッチ試験機 (CSR5100)

ナノレベルの薄膜の密着強度を定量的に測定できます。

通常のスクラッチ法より薄い膜の剥離検出を実現したマイクロスクラッチ法（JIS R-3255、JIS K 7376）準拠の試験機です。膜厚10nmの測定実績もあります。

12,000,000円～

株式会社レスカ｜最終更新日：2024/04/01

６インチステージ表裏位置ずれ計測システム (TOMOS-60)

表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

◆6インチＸＹステージを搭載！ ◆水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ ◆表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ ◆±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（被写体や環境条件により異なる） ◆表裏２ｃｈオートフォーカスユニット組み合わせ可能！（オプション）

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株式会社フローベル｜最終更新日：2023/08/07

6インチ電動XYステージ両面顕微鏡システム (TOMOS-60XY)

両面顕微鏡計測システム電動ＸＹステージとオートフォーカス機能を搭載

◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。

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株式会社フローベル｜最終更新日：2023/08/07

超高感度近赤外線カメラ_SWIRカメラ (FS-1700IRP)

超高感度近赤外線カメラ　広帯域な高感度(400nm～1700nm) 高品質SWIRカメラ

□134万画素InGAsカメラ可視から近赤外線まで受光可能（400nm～1700nm） □ベルチェ冷却採用 □画像鮮明化機能（本体内蔵） □71fps表示でライブ画像がなめらか □近赤外線（SWIR）用のカメラからレンズ・照明・画像処理までトータル的に提案します □専用PCで、確実に記録（オプション） □弊社AFユニット接続可能

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株式会社フローベル｜最終更新日：2023/08/07

高速オートフォーカスユニット (MimicⅡ-AF/CL)

◎画像AF ◎高速 ◎PCレス

■オートフォーカスを高速・高精度で実現し、円滑な作業を実現 ■フォーカス繰り返し精度を重視した画像コントラスト方式を採用 ■顕微鏡や装置などに後付けが可能な凡庸性の高い小型ユニット ■カメラは様々な機種に対応が可能※メーカー・対応機種はご相談ください

オープン価格

株式会社フローベル｜最終更新日：2023/08/01

JIS C 7624 放電ランプ（蛍光ランプを除く）－安全仕様の測定 (JISC7623評価測定)

JIS C 7624 に基づく製品の評価測定を行っております。（光学試験のみ）

JIS C 7624 「放電ランプ（蛍光ランプを除く）－安全仕様」の測定を行いリスクグループ分けをいたします。（評価は光計測のみ）

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旭光通商株式会社｜最終更新日：2023/03/08

両面顕微鏡位置ずれ計測システム (TM-200)

AF機能を搭載し表裏の位置ずれを高精度自動計測！ワークを裏返しせず、同軸で表裏の観察・外観検査が可能！

・小型化高精度化し、両面の位置ずれを±１umで測定・FA自動化へ対応可能なシステム・両面ともにAFを搭載可能で、再現性が高い計測が可能・下側にIRカメラも搭載可能で、内部の位置ずれも計測可能

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株式会社フローベル｜最終更新日：2022/09/13

コンパクトタイプ両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる）装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

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株式会社フローベル｜最終更新日：2022/09/13