粒径・粒度分布測定装置の製品一覧

全 3 件 見つかりました。

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  中型プローブ顕微鏡システム（SPM） (AFM5500M)

  より正確なナノ3D計測
  
  広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # AFM # 原子間力顕微鏡 # 導電性 # 磁気力 # 力曲線 # 高分子 # ナノマニュピレーション # 表面粗さ

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲ (TM4000Plus/TM4000)

  「次世代の人財のためのMiniscope®」ここに誕生
  
  もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品（生産性向上設備（A類型））です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面観察 # 無機成分分析 # EDS # EDX # SEM # 電子顕微鏡 # 顕微鏡 # 卓上型 # 微細形状 # 高解像度

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)

  ルーチンの品質管理を高精度、容易に コンタミネーション（残留異物）解析システム
  
  ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

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  # 洗浄度 # ISO16232 # コンタミ解析 # ＶＤＡ１９ # 残渣検査 # パーティクル

New Products 最近追加された製品

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  【新製品】7シリーズDPOオシロスコープ (DPO714AX)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク

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  インパルス巻き線試験機 (ST-1K)

  ウェーブクレスト株式会社

  # ST1K # 高精度測定 # コロナ数比較(CORON) # コロナ量(COROS) # レンズ誤差率(LPE) # コロナ放電波形波 # 破壊電圧分析 # 電気自動車モーター # サージテスター # 巻線製品メーカー

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  3D光学プロファイロメーター (HPS-DBL60S)

  ウェーブクレスト株式会社

  # 3Dプロファイル # 半導体検査 # 光学センサー # PCB検査 # 非接触測定 # 精密形状測定 # 高速検査 # フラッシュ検出 # 高精度測定 # ビジョン制御

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  外部センサー入力型 デジタルハンディタコメータ (HT-6200)

  株式会社小野測器

  # タコメータ # 回転 # ガソリン # ディーゼル # EV # HEV # 電気自動車 # モーター # エンジン

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  モーター&エンジン回転計 (CT-6710)

  株式会社小野測器

  # エンジン # 回転 # EV # HEV # ディーゼル # ガソリン # 回転速度

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  近赤外線対応デジタルカメラ　GFX100 II IR (GFX100 II IR 　　)

  富士フイルムイメージングシステムズ株式会社

  # 近赤外線 # GFX100Ⅱ

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  積層情報表示灯 (LA6-POE)

  株式会社パトライト

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  積層信号灯（Φ60）シグナル・タワー LR6（M12コネクタ仕様） (LR6シリーズ)

  株式会社パトライト

  # 工数削減 # 装置 # 設備 # メンテナンス # 配線 # 工作機械 # 半導体製造

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