Products List 製品一覧(顕微鏡)
顕微鏡の製品一覧
全 38 件 見つかりました。
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
ナノ3D光干渉計測システム (VS1330)
粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm~。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
ナノ3D光干渉計測システム (VS1800)
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
中型プローブ顕微鏡システム(SPM) (AFM5500M)
より正確なナノ3D計測
広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲ (TM4000Plus/TM4000)
「次世代の人財のためのMiniscope®」ここに誕生
もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品(生産性向上設備(A類型))です。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
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メタセンシング株式会社 |最終更新日:2025/07/11
ラマンセンサー (Raman EYE)
プロセス・顕微計測が可能なハイブリッドラマンセンサー
532nm(緑色レーザー),785nm(赤色レーザー),830nm(近赤外レーザー)の波長から励起光源を選択でき、様々な材料計測を迅速に実現します。世界最小のプロセス・顕微計測ラマンセンサーを実現することで、あらゆるプラットフォームに搭載でき、お客様の環境や設備に合わせたご提案が可能です。メタセンシング株式会社 |最終更新日:2025/07/11
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株式会社フローベル |最終更新日:2025/07/02
コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)
表裏(両面)の位置ずれ/寸法/計測 両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。
水晶振動子、MEMS、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に! 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能! 表裏光軸補正はマイクロステージ+ソフトウェアで高精度に補正! ±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定!(条件により異なる) 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能!株式会社フローベル |最終更新日:2025/07/02
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株式会社フローベル |最終更新日:2025/07/02
6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡 表裏位置ずれ計測システム (TOMOS-60XY)
両面顕微鏡計測システム 電動XYステージとオートフォーカス機能を搭載
◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 ◆6インチウエハー XY電動ステージ株式会社フローベル |最終更新日:2025/07/02