外観検査装置 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

外観検査装置の製品一覧

全68件見つかりました。

【斉藤光学】PC接続タイプマイクロスコープ光学4倍ズーム搭載！　 (SKM-Z300C-PCD)

シンプルな操作で高級機同等以上の高画質な拡大映像が、パソコン画面上に表示・保存できます。

光学4倍ズームを採用していますので、画面倍率x27.5～x110まで連続して可変できます。（作動距離88ｍｍ一定） CCD撮像素子のUSBカメラにて高画質で観察できます。グローバルシャッター方式で、動画の揺らぎがありません。シンプルな操作で高級機同等以上の高画質な拡大映像が、パソコン画面上に表示・保存できます。

278,000円（税抜）

斉藤光学株式会社｜最終更新日：2023/04/03

【斉藤光学】ラックピニオン式XYステージ (SKS-LXY-C)

観察物の安定した移動に便利です！

上部に当社製顕微鏡付属の白黒ステージが取付られ、回転できます。観察物の安定した移動に便利です。

54,000円（税別）

斉藤光学株式会社｜最終更新日：2023/03/30

Nicolet™ iS20 FTIR (お問い合わせください)

多様化する分析ニーズに対応したFT-IRの新たなスタンダード！

Thermo Scientific Nicolet iS20 FT-IRは、数々のイノベーションでFT-IRの新たなスタンダードを構築します。先端技術により設計された光学系、LightDriveオプティカル・エンジンにより、次世代の分析パフォーマンスを実現します。干渉計、レーザー、赤外光源は10年保証。そして優れたS/N比や波数分解能によって、データ収集にかかる時間を削減します。

お問合せ下さい

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社｜最終更新日：2023/02/27

DXR3シリーズラマン分光装置 (お問い合わせください)

高い機器信頼性、誰もが使いこなせる簡単操作！豊富なアプリケーションに対応します

Thermo Scientific DXR3シリーズラマン分光装置は、経験や知識を必要とせず、誰もが使いこなすことができるシステムです。特許取得済みの光軸調整機能で、常にベストコンディションを保てます。また操作性を徹底追求した直感的なソフトウェアは解析にかかる時間を短縮。さまざまな分析目的に柔軟に対応します。

お問合せ下さい

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社｜最終更新日：2023/02/27

Antaris™ II FT-NIR 近赤外アナライザー (お問い合わせください)

使いやすさと抜群の安定性！医薬、食品、化学、ポリマーなどのQA/QC専用近赤外アナライザー

『Thermo Scientific Antaris II 近赤外アナライザー』は、原料の受入検査や最終製品の確認、多成分同時定量分析などにおいて革新的な分析スタンダードをご提案します。直感的な操作性に加え、抜群の安定性とデータ再現性を誇ります。製造ラインや現場など、アットライン・ニアラインの過酷な環境下でもご使用いただけるコンパクトかつ頑丈なデザインで、メンテナンス性にも優れています。

お問合せ下さい

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社｜最終更新日：2023/02/27

Antaris™ 工業用ガスシステム (IGS) (お問い合わせください)

優れた多成分ガス分析を可能にします

『Thermo Scientific Antaris IGS システム』は工場環境や工程環境で使用するために特別に設計されたパッケージで、研究グレードの性能、スピード、感度をご提供します。

お問合せ下さい

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社｜最終更新日：2023/02/27

インパルス巻線試験機高電圧コイル測定に！ (IWT-10KV)

10,000VDCインパルス電圧, 100MHzの高速サンプリングレートを提供

マスターサンプルとDUTの波形を比較することで、巻線材料や巻線過程, フレーム, 磁気材料による絶縁不良や回転不足などの問題を簡単に検出

お問合せ下さい

ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2022/12/12

半導体向けCOGNEX VisionPro Deep Learning(ViDi) (ディープラーニングソフトウェア)

ディープラーニングベースの半導体向け画像分析にも多数ご利用いただいています。

Cognex VisionPro Deep Learningは、従来のマシンビジョンだけでは難しすぎる複雑な半導体検査とトレーサビリティアプリケーションを解決すると同時に、目視検査では不可能な一貫性とスピードも提供します。

お問合せ下さい

コグネックス株式会社｜最終更新日：2022/12/12

コンパクトタイプ両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる）装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

お問合せ下さい

株式会社フローベル｜最終更新日：2022/09/13