Products List 製品一覧(材料試験)
材料試験の製品一覧
全 7 件 見つかりました。
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ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/17
【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)
ルーチンの品質管理を高精度、容易に コンタミネーション(残留異物)解析システム
ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/17
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株式会社フローベル |最終更新日:2024/11/15
コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)
表裏(両面)の位置ずれ/寸法/計測 両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。
水晶振動子、MEMS、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に! 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能! 表裏光軸補正はマイクロステージ+ソフトウェアで高精度に補正! ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定!(条件により異なる) 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能!株式会社フローベル |最終更新日:2024/11/15
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コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 |最終更新日:2023/08/08
YXLON(エクスロン) (Cheetah EVO )
最高のX線検査装置 アセンブリ/ラボ検査で優れた拡張性発揮
YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 |最終更新日:2023/08/08
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コニカミノルタジャパン株式会社 |最終更新日:2017/03/30
分光測色計 (CM-25cG)
色彩と光沢の同時測定が可能な「Two in One」モデルの分光測色計
本測定器は色彩値と光沢値を同時に測定することが可能な「Two in One」モデルの分光測色計です。 大量のサンプルを測定する必要のある測定現場で、作業性の効率化(時間短縮)に大きく貢献いたします。コニカミノルタジャパン株式会社 |最終更新日:2017/03/30