電極材料分析の製品一覧

全 5 件 見つかりました。

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1330)

  粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
  
  「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)

  光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
  
  光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  中型プローブ顕微鏡システム（SPM） (AFM5500M)

  より正確なナノ3D計測
  
  広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # AFM # 原子間力顕微鏡 # 導電性 # 磁気力 # 力曲線 # 高分子 # ナノマニュピレーション # 表面粗さ

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲ (TM4000Plus/TM4000)

  「次世代の人財のためのMiniscope®」ここに誕生
  
  もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品（生産性向上設備（A類型））です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面観察 # 無機成分分析 # EDS # EDX # SEM # 電子顕微鏡 # 顕微鏡 # 卓上型 # 微細形状 # 高解像度

• 

  資料ダウンロード

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  【ライカ】Ivesta 3 Fusion Optics グリーノ実体顕微鏡 (Ivesta 3E ／ Ivesta 3D ／ Ivesta 3 i（4Kカメラ内蔵タイプ）)

  驚きの立体感。スペックがすごいだけじゃない。 「もっと見えて、疲れない」実体顕微鏡での「基板修理」や「金属部品の傷検査」の効率のアップ！
  
  実績あるライカ特許技術FusionOpticsをエントリーモデルにも搭載。アポクロマート補正レンズに9倍ズーム。 焦点深度は従来のS6 Eの約3倍に増加。 作業スペースも122mmと広く、視野も広くなりました。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  資料ダウンロード

New Products 最近追加された製品

• 

  通路人数カウント (VS350)

  ウェーブクレスト株式会社

  # 通路カウント # 混雑検知 # 入退場管理 # 設置簡単 # 匿名検知 # 電池モデル # 人流解析 # LoRa通信 # 店舗分析 # DX支援機器

• 

  ウルトラToFピープルカウンター (VS135)

  ウェーブクレスト株式会社

  # ToFセンサー # 双方向検知 # 人数カウント # 電池駆動 # 高精度検知 # ワイヤレス通信 # 匿名検知 # 設置自由度高 # LoRaWAN # スマート施設

• 

  スマートフォン用サーモグラフィ testo 860i (0563 0860)

  株式会社テストー

  # 発熱異常検知 # 雨漏り診断 # 熱異常 # 設備診断 # 建物診断 # 設備保全 # メンテナンス # スポット測定

• 

  【斉藤光学】ズーム式　USB3.0 マイクロスコープ (SKM-Z200C-PC4)

  斉藤光学株式会社

  # 新製品 # マイクロスコープ # USB3.0 # 外観検査 # 顕微鏡 # 表面観察 # デジタルマイクロスコープ

• 

  C シリーズ音響/振動入力モジュール　NI-9232 (784397-01)

  日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計）

  # 9232 # cシリーズ # CompactDAQ # cDAQ # DAQ # Emerson # NI-9232 # USB-DAQ # C-series # 音響振動

• 

  NI-9204 (789113-01 / 789114-01)

  日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計）

  # 9204 # cシリーズ # CompactDAQ # cDAQ # DAQ # Emerson # NI-9204 # USB-DAQ # C-series # NI

• 

  電力管理ソフトウェア LinkAnyArts-PM (LA-4465,LA-4466,LA-4467)

  株式会社高砂製作所

• 

  【新製品】7シリーズDPOオシロスコープ (DPO714AX)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク

prev next

計測・試験機器総合
Web展用語集

用語集キーワード検索

頭文字検索

• ア
• イ
• ウ
• エ
• オ
• カ
• キ
• ク
• ケ
• コ
• サ
• シ
• ス
• セ
• ソ
• タ
• チ
• テ
• ト
• ナ
• ニ
• ネ
• ノ
• ハ
• ヒ
• フ
• ヘ
• ホ
• マ
• ミ
• ム
• メ
• モ
• ユ
• ラ
• リ
• ル
• レ
• ロ
• A
• B
• C
• D
• E
• F
• G
• H
• I
• J
• L
• M
• N
• O
• P
• Q
• R
• S
• T
• U
• V
• W
• X
• Z
• 3
• 4
• 6

新着計測器用語

• LDP
• CQD
• LoRaWAN
• EVM
• レゾルバ

用語集ランキング

• 校正電圧（CAL）
• 4端子抵抗測定法
• CIEDE2000色差式
• エリアジング
• 固有誤差
• サバール板
• CIE標準分光視感効率
• 曲線因子
• IC開封装置
• 許容信号源抵抗
• プリトリガ
• レクタンギュラ窓（矩形窓）
• 振動速度・振幅・加速度
• FTA
• CIE標準イルミナント

Web展用語集を見る