Products List 製品一覧(電界・磁界測定器)
電界・磁界測定器の製品一覧
全 57 件 見つかりました。
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株式会社フルーク・ジャパン |最終更新日:2026/06/25
精密圧力ゲージ校正器 (Fluke-700G)
圧力校正のあらゆるニーズに対応できるように設計された圧力ゲージ
クラス最高の確度と測定性能を備えた Fluke 700G シリーズ精密圧力テスト・ゲージは、圧力校正のあらゆるニーズに対応できるように設計されました。700G シリーズ圧力テスト・ゲージは堅牢で使いやすく、2kPa/10 inH2O/20 mbar から 4136.86 kPa/10,000 psi/690 bar まで (絶対圧レンジを含む) の 23 種類のモデルが用意されています。株式会社フルーク・ジャパン |最終更新日:2026/06/25
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株式会社フルーク・ジャパン |最終更新日:2026/06/25
ドキュメンティング・プロセス校正器 (Fluke-753)
校正器を使った作業がさらに快適に
Fluke 753 は、圧力、温度、電気信号の発生、シミュレーション、測定など、本来なら複数のツールで行う作業を携帯可能な 1 台の機器でこなします。 ISO 9000、FDA、EPA、OSHA といった 厳格な管理基準の遵守にも役立ちます。株式会社フルーク・ジャパン |最終更新日:2026/06/25
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株式会社ノイズ研究所 |最終更新日:2026/06/09
空間電磁界可視化システム (小型・低価格版) (EPS-02Ev3)
ノイズ発生源の特定!EMI対策の効率化に!
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、試作段階での事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。株式会社ノイズ研究所 |最終更新日:2026/06/09
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株式会社ノイズ研究所 |最終更新日:2026/06/09
空間電磁波可視化システム (EPS-02Ev3)
EMI対策の効率化に
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、試作段階での事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。株式会社ノイズ研究所 |最終更新日:2026/06/09
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株式会社ノイズ研究所 |最終更新日:2026/04/23
1軸電源周波数磁界試験器 (OLC-100)
IEC 61000-4-8対応!電源周波数の磁界による電子機器のイミュニティ試験
OLC-100は、IEC 61000-4-8規格に準拠した、電源周波数磁界イミュニティ試験を行うためのワン・ターン・ループコイルと発生器です。株式会社ノイズ研究所 |最終更新日:2026/04/23
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マイクロニクス株式会社 |最終更新日:2025/12/04
簡易電波暗室(電磁波シールドテント型) (MY5700シリーズ)
安価且つ手軽に電波暗室を構築することができるシールドテント型電波暗室
●5G OTA、電波法対策、EMC試験など幅広く使える簡易電波暗室 ●大掛かりな工事が不要で工期は約2-3日(標準構成の場合) ●標準サイズラインアップを8種類ご用意マイクロニクス株式会社 |最終更新日:2025/12/04
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マイクロニクス株式会社 |最終更新日:2025/12/02
電磁波放射パターン測定システム (MRP770)
省スペース・設置工事不要で廉価な電磁波放射パターン測定システム
電磁波放射パターン測定システムMRP770は、小型の無線機器や情報通信機器、アンテナ等の放射パターンを測定するためのシステムです。IoT化が著しい昨今、さまざまな端末に無線モジュールが搭載され、アンテナ性能の把握も重要性が増しています。当システムはその一例です。お客様のご要望に合わせた最適なシステムをご提供いたします。マイクロニクス株式会社 |最終更新日:2025/12/02
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マイクロニクス株式会社 |最終更新日:2025/12/02
磁界プローブ (MMP500)
9kHzの低周波までの伝導性妨害ノイズ測定が可能
伝導性妨害ノイズ試験を行うには、LISN(ラインインピーダンス安定化回路網)を使います。 しかし、この試験をもっと手軽に行えないか、あるいはノイズ発生源をも特定できないかという要望をもとに磁界プローブMMP500が誕生しました。 MMP500とシグナルアナライザMSA538E/MSA558Eとでこの伝導性妨害ノイズを手軽に測定することができます。マイクロニクス株式会社 |最終更新日:2025/12/02
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2025/08/05
磁場プローブセット イミュニティ対策システムE1用 (S2 set)
アクティブ&パッシブ両対応、光信号出力でEMC評価の信頼性を飛躍的に向上
S2 setは、電子機器やアセンブリ内の高速過渡磁場を測定する磁界プローブセット。アクティブ/パッシブ両対応で、ESDやバースト干渉の原因解析に最適。光信号出力により高感度・非反応測定が可能。EMC評価や開発支援に活躍。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2025/08/05
