干渉を受ける電子デバイスおよびアセンブリ内の非反応性高速過渡パルス磁場を測定
テスト対象デバイスで問題を引き起こすバーストおよび ESD プロセスを分析が可能
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テスト対象デバイスで問題を引き起こすバーストおよび ESD プロセスを分析が可能
1x MSA 02、磁場プローブ(アクティブ)
1x 05K 黒、MSA 02 用プローブヘッド
1x 05R ホワイト、MSA 02用プローブヘッド
1x 05U オレンジ、MSA 02用プローブヘッド
1x MS 101、磁場プローブ
1x MS 102U、磁場プローブ
1x S2ケース、システムケース
1x S2 m、S2 セット ユーザー マニュアル
SGZ 21、バーストジェネレーター
詳細は、こちら でご確認ください。