Products List 製品一覧(光関連測定器)
光関連測定器の製品一覧
全 62 件 見つかりました。
-
オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/22
デフォーマブルミラー (ALPAO)
世界最高峰の精度、信頼性、デフォーマブルミラー
ALPAO社はコンティニアスメンブレンミラーに極小ボイスコイルモーターを配置することにより、高精密、高クオリティのデフォーバブルミラーを製造しています。そのミラーシステムは世界的な天体望遠鏡やノーベル賞受賞の研究に貢献しています。オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/22
-
オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/08
創光LED (LEDMOTIVE STLAB)
皆様の思い描く理想の光、スペクトルを作り出すことのできるLED波長可変照明。 太陽光やその他の光のスペクトルを忠実に再現します。
HCL照明を実現する LED波長可変照明を紹介します。 LEDMOTIVE 社のLED照明は波長の異なるLEDを複数搭載し白色光または各波長を任意の波長バランスで光源を設定することが出来る装置です。C-MOSベースの分光放射照度計が内蔵されており、独自技術のオプティカルループが高い波長精度、長時間安定性を確保し、再現性が大変優れております。オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/08
-
オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/07
光周波数コムシステム (Vescent )
高精密な計測に!独自のƒCEOロック検出の光コムシステム!
Vescent社の光コムシステムは、完全に安定化されたオクターブにわたるSC光源によって、ƒrep、ƒopt、およびƒCEOを正確に制御します。エルビウムベースのフェムト秒MOPAであるVescentMLL-100モードロックレーザーを中心に構築されています。 安定した低位相ノイズ動作を保証するように設計および構築されています。オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/07
-
オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/06
高精度(ナノ精度)位置決め自動ステージ (ALIO)
ステージ業界を覆すニュースタンダード! 世界最高峰の高精度ステージ
各種ステージにナノメーター精度が要求される今、アリオは2001年より6-Dナノプレシジョンと言う定義を定め、製造する全ての製品にこれを適用することで急成長しました。 ハイブリッドヘキサポッドは新しい移動方法で従来のステージをいくつも重ねるイメージをくつがえし、高精度、高速で任意の位置への複雑な動きを単純移動で可能にしています。オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/06
-
オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/06
ポジションセンシングディテクター PSD (Sitek社PSD )
競合他社が追随しえないリニアリティ、分解能、応答性!
リニアリティ、分解能、応答性など、他が追随しえない性能をもつPSDは世界各国で、特に精密計測分野においては多数使用されています。1軸、2軸、サーキュラータイプはもとより、演算回路アンプが内蔵された手離れの良いSPCシリーズなどもあります。世界各国、特に精密計測分野において多数使用されております。カスタム品にも対応します。オーテックス株式会社 |最終更新日:2021/04/06
-
株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2020/07/13
ナノ3D光干渉計測システム (VS1330)
粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm~。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2020/07/13
-
日本アビオニクス株式会社 センシングソリューション事業部 |最終更新日:2020/05/19
熱画像 収録・解析ソフトウェア (InfReC Analyzer AT1000)
効率的な熱解析!抜群の操作性!
「InfReC Analyzer AT1000」は、熱画像動画収録・ファイル編集、比較解析、報告書作成を簡単かつ効率的に行うことができるソフトウェアです。 ※ご注意:本ソフトウェアは、R550シリーズ/R450シリーズ専用です。日本アビオニクス株式会社 センシングソリューション事業部 |最終更新日:2020/05/19
-
株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2020/03/25
ナノ3D光干渉計測システム (VS1800)
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2020/03/25