その他電子計測関連の製品一覧

全 93 件 見つかりました。

• 

  日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計） ｜最終更新日：2025/10/27

  Nigel AIアドバイザ (-)

  NIソフトウェア開発の信頼できるパートナー
  
  Nigel AIアドバイザは、NIソフトウェアでコンテキストに基づいたガイダンス、自動化、インサイトを提供し、時間のかかる開発タスクを排除して生産性と効果を高めます。

  日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計） ｜最終更新日：2025/10/27

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/10/24

  IoT E-inkディスプレイ (DS3604)

  紙のような視認性と、クラウド連携による柔軟な表示制御。Milesight DS3604が、スマートで持続可能な情報掲示を実現します。
  
  Milesight DS3604は、LoRaWAN対応のEインクディスプレイで、超低消費電力かつ最大5年のバッテリー寿命を実現。遠隔からの表示更新やテンプレート管理に対応し、倉庫・小売・施設運用のペーパーレス化を促進します。

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/10/24

  資料ダウンロード

  # Eインクディスプレイ # 多言語対応表示 # LoRaWAN対応表示器 # リモート表示制御 # ペーパーレス運用 # テンプレート表示 # 超低消費電力 # スマートサイネージ # 最大5年バッテリー # 倉庫・小売活用

• 

  資料ダウンロード

  ハルツォク・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/10/15

  試料研磨機『ACCURA-102』 (アキュラ-102)

  顕微鏡観察用試料作成のための半自動研磨装置
  
  電子部品の断面解析やメッキ皮膜の膜厚測定、鉄鋼・非鉄金属の組織観察、硬度測定など多様な観察目的に対応できる研磨機です。

  ハルツォク・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/10/15

  資料ダウンロード

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/09/05

  インパルス巻き線試験機 (ST-1K)

  1Kの精度が、あなたの検証プロセスに新たな信頼をもたらす。
  
  - 測定電圧：10V～1,000V（≒3%精度）、100Vステップ
  - 対応インダクタンス範囲：0.1μH～1mH
  - サンプリングレート：12bit / 5ns（200MHz）
  - 波形表示：電圧波形・電流波形・コロナ放電波形

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/09/05

  資料ダウンロード

  # ST1K # 高精度測定 # コロナ数比較(CORON) # コロナ量(COROS) # レンズ誤差率(LPE) # コロナ放電波形波 # 破壊電圧分析 # 電気自動車モーター # サージテスター # 巻線製品メーカー

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1330)

  粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
  
  「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)

  光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
  
  光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

• 

  資料ダウンロード

  株式会社フォトロン ｜最終更新日：2025/08/18

  FASTCAM Nova Sシリーズ (FASTCAM Nova S20/S16/S12/S9/S6)

  超高速撮影性能と小型軽量筐体を両立したハイスピードカメラ｜お客様の研究開発にスローモーション解析システムをご提案
  
  「FASTCAM Nova Sシリーズ」は、120×120×217.2mm、質量3.3kgという小型軽量密閉筐体でありながら、1024×992 ピクセルで 20,000 コマ/秒、512×512 ピクセルで 62,500 コマ/秒、最高 1,100,000 コマ/秒（※Nova S20）という撮影速度を実現したハイスピードカメラです。

  株式会社フォトロン ｜最終更新日：2025/08/18

  資料ダウンロード

  # ハイスピード # 溶接 # 流体 # 材料試験

• 

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/08/05

  高性能無線通信装置 60GHz帯 (Free Mileシリーズ)

  光ファイバー並みのスピードを、空中で。FreeMile 60が、次世代通信を加速する。
  
  Freemile 60 は、パワー、スピード、範囲、汎用性が融合し、ワイヤレス接続を再定義します。ネットワークに比類のないパフォーマンスと可能性を提供するように設計された Freemile 60 は、現代のワイヤレス テクノロジーの頂点に立っています。

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/08/05

  # 高性能無線通信装置 # 光速ネットワーク # FreeMile60 # 設置柔軟性 # 60GHz通信 # FWAソリューション # 高速無線リンク # 次世代通信 # 干渉ゼロ通信 # 企業向け通信

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/08/05

  紫外線硬化型コンベア (SunBelt 25)

  限られたスペースでも、確かなUV硬化を。SunBelt 25が現場にフィット。
  
  大型部品の大量生産またはラボ加工用に設計された、広幅、高出力の光硬化コンベアシステムです。 本システムは、コンパクトでプログラム可能な電子式電力調整バラストによって給電される高出力アークランプを特徴としています。

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/08/05

  資料ダウンロード

  # UVコンベア # 試作に最適 # SunBelt25 # UV照射制御 # 小型UV装置 # 省スペース設置 # 高性能硬化 # 硬化品質向上 # 研究開発向け # UV硬化装置

• 

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/08/05

  紫外線硬化型コンベア、 デュアルランプ硬化コンベアシステム (UV Conveyor 40 Plus)

  硬化ムラにさようなら。UV Conveyor 40 Plusが、照射品質を次のレベルへ。
  
  シングルまたはデュアル高輝度ランプヘッドで構成でき、取り外してスタンドマウントシステムとして再構成できるため、汎用性が高まります。 ベルトからランプまでの高さは1.2～6.7インチまで簡単に調整でき、さまざまな部品サイズに対応できます。

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/08/05

  # UV搬送装置 # 40Plus # UV硬化ライン # 生産性向上 # 高効率硬化 # 硬化ムラ防止 # 安定照射 # UV照射制御 # UVConveyor # 製造現場強化

New Products 最近追加された製品

• 

  スペクトラムマスタ (MS2760A／MS2762A)

  アンリツ株式会社

• 

  ベクトルネットワークアナライザ (MS4640B Series)

  アンリツ株式会社

• 

  パルスカウンター LoRaWAN® (EM300-DI)

  ウェーブクレスト株式会社

• 

  レーダー距離/レベルセンサー LoRaWAN® (EM410-RDL )

  ウェーブクレスト株式会社

  # 非接触レーダー測定 # 高精度レーダー技術 # LoRaWAN®長距離通信 # クラウド連携対応 # 超低消費電力設計 # 簡単設置・ゼロメンテ # 屋外耐候性IP67 # 多用途フィールドIoT # タンク・河川・貯水池対応 # LoRaWANクラスA.B対応

• 

  MP5000シリーズ　モジュラ・プレシジョン・テスト・システム (MP5103)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク　ケースレーインスツルメンツ社

  # モジュール型計測システム # 高精度テスト # 自動計測システム # 電子機器評価 # 信号測定 # 試験自動化 # 製品検証 # 研究開発支援 # 測定ソリューション # ケースレーインスツルメンツ

• 

  R&S®MXO3 オシロスコープ (MXO3)

  ローデ･シュワルツ･ジャパン株式会社

  # オシロスコープ # MXO # デジタルオシロスコープ # プローブ

• 

  Nigel AIアドバイザ (-)

  日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計）

• 

  アース導通試験器 (TOS6210)

  菊水電子工業株式会社

prev next

計測・試験機器総合
Web展用語集

用語集キーワード検索

頭文字検索

• ア
• イ
• ウ
• エ
• オ
• カ
• キ
• ク
• ケ
• コ
• サ
• シ
• ス
• セ
• ソ
• タ
• チ
• テ
• ト
• ナ
• ニ
• ネ
• ノ
• ハ
• ヒ
• フ
• ヘ
• ホ
• マ
• ミ
• ム
• メ
• モ
• ユ
• ラ
• リ
• ル
• レ
• ロ
• A
• B
• C
• D
• E
• F
• G
• H
• I
• J
• L
• M
• N
• O
• P
• Q
• R
• S
• T
• U
• V
• W
• X
• Z
• 3
• 4
• 6

新着計測器用語

• LDP
• CQD
• LoRaWAN
• EVM
• レゾルバ

用語集ランキング

• 校正電圧（CAL）
• 4端子抵抗測定法
• CIEDE2000色差式
• エリアジング
• 固有誤差
• サバール板
• CIE標準分光視感効率
• 曲線因子
• IC開封装置
• 許容信号源抵抗
• プリトリガ
• レクタンギュラ窓（矩形窓）
• 振動速度・振幅・加速度
• FTA
• CIE標準イルミナント

Web展用語集を見る