Products List 製品一覧(その他電子計測関連)
その他電子計測関連の製品一覧
全 94 件 見つかりました。
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日本ナショナルインスツルメンツ NI(日本電計) |最終更新日:2026/01/23
NI 18スロットハイブリッドPXIシャーシ (NI PXIe-1081)
費用対効果に優れた、低帯域幅アプリケーション向け18スロット・ハイブリッドシャーシ
ハイブリッド対応の17スロット構成で、スロットあたり250MB/s、最大2GB/sの帯域を実現します。58W/スロットの冷却性能で安定動作を確保します。DAQ、DMM、SMU、スイッチ用途に最適です。NI-TClk同期計測とNIソフト連携、InstrumentStudio™により可視化と制御を効率化します。日本ナショナルインスツルメンツ NI(日本電計) |最終更新日:2026/01/23
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2025/12/26
180° RFハイブリッドカプラ 2.92mm 18-40GHz (XQY-HYD-18/40-180KE)
18〜40GHzをカバーする高精度・広帯域 180°ハイブリッドカプラ
180° 2.92mmハイブリッドカプラ 18–40GHz は、マイクロ波/ミリ波帯で使用される 広帯域180°ハイブリッドカプラ です。入力信号を 等振幅・180°位相差の2系統に分配でき、 また複数信号の合成にも利用されます。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2025/12/26
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株式会社Wave Technology |最終更新日:2025/12/18
導通抵抗モニタリングシステム (導通抵抗モニタリングシステム)
・DC/ACの両測定に対応 ・抵抗に加えコンデンサの実装信頼性評価が可能
・導通抵抗や容量の変化 を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 ・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。株式会社Wave Technology |最終更新日:2025/12/18
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日本ナショナルインスツルメンツ NI(日本電計) |最終更新日:2025/11/12
Nigel AIアドバイザ (-)
NIソフトウェア開発の信頼できるパートナー
Nigel AIアドバイザは、NIソフトウェアでコンテキストに基づいたガイダンス、自動化、インサイトを提供し、時間のかかる開発タスクを排除して生産性と効果を高めます。日本ナショナルインスツルメンツ NI(日本電計) |最終更新日:2025/11/12
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2025/10/24
IoT E-inkディスプレイ (DS3604)
紙のような視認性と、クラウド連携による柔軟な表示制御。Milesight DS3604が、スマートで持続可能な情報掲示を実現します。
Milesight DS3604は、LoRaWAN対応のEインクディスプレイで、超低消費電力かつ最大5年のバッテリー寿命を実現。遠隔からの表示更新やテンプレート管理に対応し、倉庫・小売・施設運用のペーパーレス化を促進します。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2025/10/24
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ハルツォク・ジャパン株式会社 |最終更新日:2025/10/15
試料研磨機『ACCURA-102』 (アキュラ-102)
顕微鏡観察用試料作成のための半自動研磨装置
電子部品の断面解析やメッキ皮膜の膜厚測定、鉄鋼・非鉄金属の組織観察、硬度測定など多様な観察目的に対応できる研磨機です。ハルツォク・ジャパン株式会社 |最終更新日:2025/10/15
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2025/09/05
インパルス巻き線試験機 (ST-1K)
1Kの精度が、あなたの検証プロセスに新たな信頼をもたらす。
- 測定電圧:10V~1,000V(≒3%精度)、100Vステップ
- 対応インダクタンス範囲:0.1μH~1mH
- サンプリングレート:12bit / 5ns(200MHz)
- 波形表示:電圧波形・電流波形・コロナ放電波形ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2025/09/05
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
ナノ3D光干渉計測システム (VS1330)
粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm~。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
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株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
ナノ3D光干渉計測システム (VS1800)
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。株式会社 日立ハイテク |最終更新日:2025/08/19
