Products List 製品一覧(EMC・EMI関連)
EMC・EMI関連の製品一覧
全 550 件 見つかりました。
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/22
自給電源式 アクティブ負荷 (TBOH02)
高精度のセルフパワーアクティブロードで、個別の電源電圧を必要とせず、2Vの低い電圧で動作
TBOH02を負荷として使用する電源ノイズ測定は、デジタル制御されたアクティブ負荷で実行される測定とは異なり、追加のノイズと重なることはありません。 TBOH02は、電源測定のアクティブ負荷としてだけでなく、電源LEDテストや同様のアプリケーションの電流シンクまたは電流ソースとしても使用できます。また、外部電源が利用できない現場でテストを行う場合にも便利です。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/22
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/21
インジェクショントランス 広帯域、 インジェクショントランスフォーマ 1Hz~7MHz (TBJT02 )
低周波ノイズ注入の定番、TBJT02
TBJT02 は、1 Hz〜7 MHz の広帯域に対応したインジェクショントランスで、伝導イミュニティ試験や低周波ノイズ注入に最適なモデルです。 電源ラインや信号ラインに外部ノイズを正確に注入でき、EMCプリコンプライアンス評価や設計段階の耐性確認に幅広く利用できます。 小型・堅牢な構造で、ラボから現場まで扱いやすいのが特長です。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/21
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/21
トランジェントリミッタ 9KHz~600MHz (TBFL1)
TBFL1は、伝導ノイズ測定などでスペクトラムアナライザーまたは測定レシーバー入力を最適に保護するように設計されています 。
ピンおよびショットキーダイオードと多段10dB減衰器を組み合わせると、最大5W(37dBm)の連続RF入力レベルに耐えることができるデバイスになります。 TBFL1リミッターは、伝導ノイズ測定の全範囲の保護デバイスとして、および他の多くのアプリケーションで使用できます。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/21
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株式会社Wave Technology |最終更新日:2026/01/16
電気設計受託サービス (-)
お客様の描く製品イメージを実現させるシステム構成をご提案し、回路設計・評価を委託できるサービスです。
【試作もスピーディーに対応 】 ●技術領域の広さと幅広い対応力から生まれるワンストップサービスで製品開発を全般的にサポートします。 ●ワンストップサービスでお客様の製品開発をスピードアップします。 ●開発請負、技術派遣などお客様のご要望に応じフレキシブルに対応します。 【検証業務受託】 ●製品開発で大きなウェイトを占めるEMI対策も保有する電波暗室で対応します。株式会社Wave Technology |最終更新日:2026/01/16
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
ダブルパルス磁場源セット プローブヘッド寸法 直径250µm (ICI-DP HH250-15)
25nsが、システムの本質を露わにする。
ICI‑DP HH250‑15 は、IC や電子回路に高速の過渡磁界パルスを注入するために設計された、電磁フォルト注入(EMFI)用のプローブ/磁界ソース。 セキュリティ評価、耐タンパ性試験、フォルト注入研究などで、IC の特定位置へ精密にパルスを照射し、意図的に誤動作を誘発するために使用される。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
ダブルパルス磁場源セット プローブヘッド寸法 直径500µm (ICI-DP HH500-15)
精密に狙い、確実に揺さぶる。IC耐性を検証するコンパクトFIプローブ。
ICI-DP HH500-15 は、ICやマイコンに対して局所的なパルス磁界を照射し、誤動作を誘発するためのフォルトインジェクション用プローブです。500Vパルスと高速立ち上がりにより、暗号処理や制御ICの脆弱性評価を効率化。小型ヘッドで狙った領域へ正確にエネルギーを注入でき、再現性の高い物理攻撃試験を実現します。セキュリティ評価や耐故障性検証に適した実用モデルです。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
ダブルパルス磁場源セット プローブヘッド寸法 直径1000µm (ICI-DP HH1000-15)
ICを“意図的に揺さぶる”。耐故障性を見抜くパルス磁界インジェクタ。
ICI-DP HH1000-15 は、ICやマイコンに対して強力なパルス磁界を照射し、誤動作や故障を意図的に誘発するための故障注入(Fault Injection)用プローブです。1000Vパルス、2ns立ち上がり、最大16Aのパルス電流により、暗号ICの耐タンパ性評価やセキュリティ検証に最適。高精度な位置決めと再現性の高い注入が可能で、堅牢なセキュリティ設計を支援します。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
イミュニティ対策システム (E1 set)
ノイズの正体を“瞬時に見える化”。EMI解析を加速するエントリーセット。
E1セットは、電子機器の近傍磁界を手軽かつ高精度に測定できるEMI解析用プローブキットです。基板上のノイズ源を素早く特定できる高感度磁界プローブとプリアンプを組み合わせ、開発段階でのトラブルシュートを効率化します。放射エミッションの原因探索や対策効果の確認に最適で、EMC設計の初期段階から活用できる実用的なエントリーモデルです。。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
マイクロプローブセット 周波数レンジ:1MHz~6GHz (MFA01)
高速ノイズの“深層”を描き出す。微細回路解析のためのハイバンド幅プローブ。
MFA02マイクロプローブセットは、高速デジタル回路やRFデバイスの近傍磁界を高帯域かつ高感度で測定するために設計されたプローブキットです。微細パターンやIC内部に近い領域のノイズ挙動を精密に捉え、EMI原因の深掘り解析を可能にします。MFA01より広い周波数レンジと高い応答性を備え、先端電子機器の開発・評価に最適な測定環境を提供します。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
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ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
マイクロプローブセット 周波数レンジ:1MHz~1GHz (MFA02)
微小ノイズを“点”で捉える。高速回路の真相に迫るマイクロプローブ。
MFA01マイクロプローブセットは、高速デジタル回路や高周波IC周辺の微小磁界を高分解能で測定するための近傍界プローブキットです。微細パターンやICピン単位のノイズ源を正確に可視化し、EMI対策や信号品質改善に不可欠な情報を提供します。高感度・高帯域のプローブと専用アクセサリにより、開発段階での精密なノイズ解析を実現します。。ウェーブクレスト株式会社 |最終更新日:2026/01/16
