欠陥検査装置の製品一覧
全45件見つかりました。
各種ディスプレイ、バックライト付キーボードの輝度、色度評価、外観表面検査用途に適したイメージング色彩輝度計
ProMetric® Iシリーズは、各種ディスプレイ、バックライト付キーボードの輝度、色度評価、外観表面検査用途に適した2次元色彩輝度計です。高解像度、高速測定を特長とするハードウェアとアプリケーションソフトウェアと組み合わせにより、研究開発での高度な画像解析、生産現場での検査の自動化が可能です。
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コニカミノルタジャパン株式会社｜最終更新日：2017/01/31
残留応力測定装置は、ここまで進化しました！
μ-X360シリーズに待望の小型版μ-X360sを追加しました。金属やセラミックなどの残留応力、残留オーステナイト、半価幅を非破壊で測定します。可搬性、信頼性、安全性、操作性、価格など、すべてにおいて優れた装置です。
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パルステック工業株式会社｜最終更新日：2016/09/02
RoHS対応など環境規制物質測定に適した低価格蛍光X線分析装置
蛍光X線分析装置「EA1000AIII」は、精度管理型ソフトウェアをより進化させ標準装備しながら、低価格に抑えました。また当社従来機種に比べ検査時間を1/3と大幅な短縮化を実現し、スループットを向上させました。 （代理店：日本電計株式会社と共同出展）
7,000,000円~
株式会社 日立ハイテクサイエンス｜最終更新日：2014/10/14
1視野（ワイヤ100本程度）あたり1秒程度で！高速検査が可能！
画像処理によってボンディングワイヤの高さとボンディング部分形状を自動測定。
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ソフトワークス株式会社｜最終更新日：2014/07/09
水などの接触媒質を介することなしに、非接触で探傷・計測を可能とする超音波スキャナー装置です。Non-contact Air coupled Ultrasonic Testing
「NAUT21」はジャパンプローブが培った非接触空中超音波探傷技術とNI社製LabVIEW＋デジタイザを組み合わせてA,B,Cスコープ等の画像処理が可能なシステムです。
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ジャパンプローブ株式会社｜最終更新日：2013/08/20
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