欠陥検査装置 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

欠陥検査装置の製品一覧

全44件見つかりました。

コンパクトタイプ両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる）装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

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株式会社フローベル｜最終更新日：2022/09/13

ワイラー社精密デジタル水準器 (BlueSYSTEMシリーズ)

高感度デジタル水準器が精密アライメントをサポート

耐衝撃性に優れた静電容量センサと、温度自動補正機能による信頼性の高い測定結果が市場で高く評価されています。豊富な測定ベースと測定項目に応じた専用ソフトウェアを組み合わせることで、様々なアプリケーションの精密測定に応えます。

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YKT株式会社｜最終更新日：2022/09/09

試料埋込機『ECOPRESS シリーズ』 (エコプレス　シリーズ)

顕微鏡観察用試料作成のための自動埋込装置

鉄鋼・非鉄金属の組織観察、硬度測定などを容易にする埋込機です。

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ハルツォク・ジャパン株式会社｜最終更新日：2022/06/09

ワイラー社角形デジタル水準器 (Clinotronicシリーズ)

複数の接触面で広角度を高精度測定

角形モデルのClinotronicシリーズは最高4面を利用し、＋/－の反転なく平行度の測定に対応するデジタル水準器です。重力補正機能によりClinotronic Sは広角度45度で最小許容誤差1分30秒、 wylerCLINO Frameは60度で1分15秒を実現します。

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YKT株式会社｜最終更新日：2022/04/28

CNC画像測定機　クイックビジョンACTIVE (QV-ACTIVE)

簡単操作で高機能、省スペースで多彩なニーズに応えます。

画像処理を用いて測定物の輪郭・エッジを検出することで、測長・幾何公差との照合が出来る測定機です。

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株式会社ミツトヨ｜最終更新日：2022/04/21

【ライカ】4K　デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)

品質管理・外観検査のための Emspira3。　パソコン本体不要！モニタ直結で4Kライブ表示、画像保存、測定まで可能なＰＣレスデジタルマイクロスコープ。

EmspiraはＰＣレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有することができます。

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ライカマイクロシステムズ株式会社｜最終更新日：2022/04/04

COGNEX VisionPro Deep Learning(ViDi) (製造業向け視覚認識ディープラーニングソフトウェア)

ディープラーニングベースの工業用画像分析

Cognex VisionPro Deep Learningは、ディープラーニングベースの工業用画像分析に特化した初のソフトウェアです。通常では不可能な検査や分類作業のプログラミングを可能とします。

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コグネックス株式会社｜最終更新日：2022/03/22

【BYK】ウェーブ-スキャン 3 デュアル（塗装表面性状測定） (Cat No.7400)

高光沢から中光沢表面のオレンジピールおよびDOI（写像鮮明性）測定

外観の管理はもはや最終トップコート検査には限られません。ウェーブ-スキャン 3 デュアルは、レーザー光源を用いて光沢面の光学プロファイルをスキャンします。さらに、高エネルギーの赤外 LEDで光沢表面の同じストラクチャースペクトル(0.1-30mm)を測定します。ダルネスは最新鋭のCCDカメラで測定され、＜0.1ｍｍのストラクチャーの表面写実性に関する情報が得られます。

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株式会社テツタニ｜最終更新日：2022/02/18