半導体・IC測定器・インサーキットテスタの製品一覧
全60件見つかりました。
EOL対応だけではもったいない！FPGAに周辺回路も取り込んで大幅なコストダウンを実現！
今まで個別のデバイスで構成されていた基板の部品点数を大幅に削減してコストダウンを実現
仕様用途に応じて金額は変動いたします。まずはお問い合わせください。
株式会社Wave Technology｜最終更新日：2024/01/22
USB充電器・電子たばこ・ドローンバッテリーBMU・DC/DCコンバーター 分解・回路・部品構成・特性比較、原理検証などの調査レポートを販売します！
当社は、独自の視点と調査ノウハウを結集した『分解調査レポート』 （リバースエンジニアリングレポート）を販売いたします。 分解・BOM作成・回路図化だけに留まらず、調査対象製品の特性（電気特性、温度上昇）にも踏み込んで調査を実施。 リバースエンジニアリング分野で豊富な実績を持つ当社技術者が、独自の設計者目線でレポートしています。
￥198,000～
株式会社Wave Technology｜最終更新日：2024/01/22
精密さと完璧さの融合
●拡張アプリケーションスペース
●モジュール式ピンブロック設計
●間隔を自由に設定可能
●お客様のご要望に応じた様々なピンモジュールオプション – 800ピンから4,800ピンまで構成可能
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/10
プローブカードの位置決めが容易
●ヒンジ式プローブタワーキャリアとクランプ機構
●トップロードプローバーのプローブカード交換を容易に
●ヒンジ式プローブタワー
●リニアピンコンプレッション
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/10
普遍的な使用 – 既存のソリューションとの互換性
様々なテスタータイプ（ETS-364、ネクステスト・マグナムHV、HDなど）に対応。
– 内部リング7″
– センターリング9″
– 外部リング11″
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/10
デバイス評価用のテストハンドラで、–60 °C to +175 °Cの温度範囲で使用可能
●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
●アクティブ・サーマル・コントロール・システム（ATC）による-60 °C～+175 °C（-76°F～+347°F）のデバイス試験温度
●低温/高温試験用 → 3温度試験
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/10
１枚のカードで32ch digital, DPS, PPPMU機能
既存テスタで足りないデジタルテスト機能を最大192chまで補うことが可能です。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/05
・DC/ACの両測定に対応 ・抵抗に加えコンデンサの実装信頼性評価が可能
・導通抵抗や容量の変化 を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 ・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。
仕様用途に応じて金額は変動いたします。まずはお問い合わせください。
株式会社Wave Technology｜最終更新日：2023/12/01
小さなフットプリントで次世代の品質と信頼性を実現
マイクロフォーカスイメージで電子部品や実装基板などの解析· 検査用途で活躍し、高感度型16ビット(65000階調)フラットパネルディテクタによる抜群の表現力があります。省スペースに適した 1,100x1,050mmフットプリント設計でオリジナルCT再構成モジュールと3D表示ソフトウェアを搭載しています。
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コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社｜最終更新日：2023/08/08
最近登録された製品
NI（ナショナル・インスツルメンツ）の製品・ソリューションを特集しています。
中塗り、電着からトップコートまでオレンジピールを管理 【BYK】ウェーブ・スキャン
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