光学フィルムの製品一覧
全35件見つかりました。
メガコントラストからバックライト光源の評価までオールインワン計測器
分光放射計SR-LEDWは超低輝度領域：0.0005cd/㎡から超高輝度領域：5,000,000cd/㎡までのワイドダイナミックレンジに対応した、分光放射計SRシリーズの最上位機種になります。黒色画像の表現に必要なコントラスト評価からバックライトの光源（LED・CCFL）評価まで、SR-LEDW１台で一括の計測管理が可能になります。
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株式会社トプコンテクノハウス｜最終更新日：2018/03/26
低コスト、ポータブルなガラス厚み計測装置 ※独自の深度方向スキャン方式を採用することで装置の小型化、低コスト化に成功しました。
【製品概要】 本製品はＯＣＴ（光干渉断層像）技術を応用したガラスなど透明体の非破 壊断層計測装置です。計測用途に応じてペン型測定ユニットや平面測定システム、曲面測定システムを取り揃えています。
2,500,000円
パルステック工業株式会社｜最終更新日：2016/09/02
非接触の光学系で、分光反射率から薄膜の膜厚を測定します。
光を透明または半透明膜に照射し、その光のスペクトル情報から膜厚を算出するので、サンプルを傷付けず、再現性良く測定する方法として注目されています。 光ファイバーでサンプルを照射するので、場所を選ばず、インライン使用も可能になりました。 アクチュエータとの併用で、簡単なマッピング膜厚測定も実現します。
1,600,000円～
株式会社スペクトラ・コープ｜最終更新日：2015/02/16
⾮破壊でナノメートル以下迄の３次元測定を可能にする超⼩型AFM
SEM や旧来のAFM に変わる次世代のAFM。 測定ワークにダメージを与えず、正確な3次元測定がスキル無しで可能になりました。
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ソフトワークス株式会社｜最終更新日：2014/05/21
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