ガラス基板 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

ガラス基板の製品一覧

全27件見つかりました。

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超薄膜スクラッチ試験機 (CSR5100)

ナノレベルの薄膜の密着強度を定量的に測定できます。

通常のスクラッチ法より薄い膜の剥離検出を実現したマイクロスクラッチ法（JIS R-3255、JIS K 7376）準拠の試験機です。膜厚10nmの測定実績もあります。

12,000,000円～

株式会社レスカ｜最終更新日：2024/04/01

導通抵抗モニタリングシステム (導通抵抗モニタリングシステム)

・DC/ACの両測定に対応・抵抗に加えコンデンサの実装信頼性評価が可能

・導通抵抗や容量の変化を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。

仕様用途に応じて金額は変動いたします。まずはお問い合わせください。

株式会社Wave Technology｜最終更新日：2023/12/01

YXLON（エクスロン） (Cheetah EVO )

最高のX線検査装置アセンブリ／ラボ検査で優れた拡張性発揮

YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。

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コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社｜最終更新日：2023/08/08

YXLON（エクスロン） (Cougar EVO )

小さなフットプリントで次世代の品質と信頼性を実現

マイクロフォーカスイメージで電子部品や実装基板などの解析· 検査用途で活躍し、高感度型16ビット(65000階調)フラットパネルディテクタによる抜群の表現力があります。省スペースに適した 1,100x1,050mmフットプリント設計でオリジナルCT再構成モジュールと3D表示ソフトウェアを搭載しています。

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コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社｜最終更新日：2023/08/08

６インチステージ表裏位置ずれ計測システム (TOMOS-60)

表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

◆6インチＸＹステージを搭載！ ◆水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ ◆表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ ◆±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（被写体や環境条件により異なる） ◆表裏２ｃｈオートフォーカスユニット組み合わせ可能！（オプション）

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株式会社フローベル｜最終更新日：2023/08/07

超高感度近赤外線カメラ_SWIRカメラ (FS-1700IRP)

超高感度近赤外線カメラ　広帯域な高感度(400nm～1700nm) 高品質SWIRカメラ

□134万画素InGAsカメラ可視から近赤外線まで受光可能（400nm～1700nm） □ベルチェ冷却採用 □画像鮮明化機能（本体内蔵） □71fps表示でライブ画像がなめらか □近赤外線（SWIR）用のカメラからレンズ・照明・画像処理までトータル的に提案します □専用PCで、確実に記録（オプション） □弊社AFユニット接続可能

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株式会社フローベル｜最終更新日：2023/08/07