膜厚/抵抗測定装置の製品一覧
全18件見つかりました。他拠点間のweb会議とリモート操作、画面共有に対応した最新デジタルマイクロスコープです。タッチ操作も可能。デジタルマイクロスコープ専門メーカーのスタンダードモデル。汎用的に使われる機能でシンプル構成。
デジタルマイクロスコープ「RX-100」各種通信ソフトに繋げば他拠点間で観察可能。従来の一体型モデルと異なり、機能選択が可能。従来のマイクロスコープの利便性と新しい操作感を実感いただけます。当社初のタッチ操作を採用。初めてデジタルマイクロスコープを操作する方に優しい操作性です。
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株式会社ハイロックス|最終更新日:2020/12/11
粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm~。
10,500,000円~
株式会社 日立ハイテク|最終更新日:2020/07/13
デジタルマイクロスコープ専門メーカーの最新機種。高精細画像、正確さ、操作性を追求。また「選べるデジタルマイクロスコープシステム」ですべての皆様に最適なご提案を致します。
4Kモニター対応デジタルマイクロスコープ「HRX-01」0~7,000倍の観察倍率。従来の一体型モデルと異なり、シンプル(観察特化)から、フルスペック(多機能)システムで、 機能選択が可能です。新製品として「高解像度テレセン電動ズームレンズ(10~200倍)」もオススメです。広視野でありがながら歪みの少ない画像を捉えます。電動ズーム制御も追加され、より簡単に使用可能です。
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株式会社ハイロックス|最終更新日:2020/06/01
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。
15,600,000円~
株式会社 日立ハイテク|最終更新日:2020/03/25
低コスト、ポータブルなガラス厚み計測装置 ※独自の深度方向スキャン方式を採用することで装置の小型化、低コスト化に成功しました。
【製品概要】 本製品はOCT(光干渉断層像)技術を応用したガラスなど透明体の非破 壊断層計測装置です。計測用途に応じてペン型測定ユニットや平面測定システム、曲面測定システムを取り揃えています。
2,500,000円
パルステック工業株式会社|最終更新日:2016/09/02
非接触の光学系で、分光反射率から薄膜の膜厚を測定します。
光を透明または半透明膜に照射し、その光のスペクトル情報から膜厚を算出するので、サンプルを傷付けず、再現性良く測定する方法として注目されています。 光ファイバーでサンプルを照射するので、場所を選ばず、インライン使用も可能になりました。 アクチュエータとの併用で、簡単なマッピング膜厚測定も実現します。
1,600,000円~
株式会社スペクトラ・コープ|最終更新日:2015/02/16
CG Lambda は CarlZiess社製分光器モジュールCGSを搭載した小型分光装置です。
波長範囲190~1000nm において波長分散0.6nm 以下・半値幅分解能2.5nm 未満の高分解能、裏面入射式CCD 素子を使用した高感度な分光装置となっております。更にS/N 比3000:1 の低ノイズ、A/D 分解能16bit の高ダイナミックレンジ、波長精度0.3nm以下の高精度など特筆すべき特徴を多数備えております。
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株式会社スペクトラ・コープ|最終更新日:2013/09/09
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【新製品】マルチファンクションジェネレータ WF1983 / WF1984発売!!必要な波形を容易に出力。 テストの品質および効率向上に。
中塗り、電着からトップコートまでオレンジピールを管理 【BYK】ウェーブ・スキャン
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