外観検査装置の製品一覧
全68件見つかりました。複数の接触面で広角度を高精度測定
角形モデルのClinotronicシリーズは最高4面を利用し、+/-の反転なく平行度の測定に対応するデジタル水準器です。重力補正機能によりClinotronic Sは広角度45度で最小許容誤差1分30秒、 wylerCLINO Frameは60度で1分15秒を実現します。
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YKT株式会社|最終更新日:2024/04/25
驚きの立体感。スペックがすごいだけじゃない。 「もっと見えて、疲れない」実体顕微鏡での「基板修理」や「金属部品の傷検査」の効率のアップ!
実績あるライカ特許技術FusionOpticsをエントリーモデルにも搭載。アポクロマート補正レンズに9倍ズーム。 焦点深度は従来のS6 Eの約3倍に増加。 作業スペースも122mmと広く、視野も広くなりました。
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ライカ マイクロシステムズ株式会社|最終更新日:2024/02/13
高解像度測定で開発や生産ラインに適したデータ分析・評価を短時間で対応
輝度色度ユニフォミティ測定器UA-20Cは、小型軽量ながら2450万画素の高解像度で微細な輝度変化やユニフォミティを計測可能な面計測器です。
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株式会社トプコンテクノハウス|最終更新日:2023/10/10
表裏の位置ずれ/寸法測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。
◆6インチXYステージを搭載! ◆水晶振動子、MEMS、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に! ◆表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能! ◆±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定!(被写体や環境条件により異なる) ◆表裏2chオートフォーカスユニット組み合わせ可能!(オプション)
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株式会社フローベル|最終更新日:2023/08/07
両面顕微鏡計測システム 電動XYステージとオートフォーカス機能を搭載
◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。
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株式会社フローベル|最終更新日:2023/08/07
超高感度近赤外線カメラ 広帯域な高感度(400nm~1700nm) 高品質SWIRカメラ
□134万画素InGAsカメラ可視から近赤外線まで受光可能(400nm~1700nm) □ベルチェ冷却採用 □画像鮮明化機能(本体内蔵) □71fps表示でライブ画像がなめらか □近赤外線(SWIR)用のカメラからレンズ・照明・画像処理までトータル的に提案します □専用PCで、確実に記録(オプション) □弊社AFユニット接続可能
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株式会社フローベル|最終更新日:2023/08/07
◎画像AF ◎高速 ◎PCレス
■オートフォーカスを高速・高精度で実現し、円滑な作業を実現 ■フォーカス繰り返し精度を重視した画像コントラスト方式を採用 ■顕微鏡や装置などに後付けが可能な凡庸性の高い小型ユニット ■カメラは様々な機種に対応が可能※メーカー・対応機種はご相談ください
オープン価格
株式会社フローベル|最終更新日:2023/08/01
ワイドズームを搭載した高コストパフォーマンスモデル
SmartScopeシリーズ中、最も高いズーム比を持ち、低倍から高倍までを幅広くフォロー。特に中・大型サイズのラインナップが充実しており、50kg以上の耐荷重も魅力。
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YKT株式会社|最終更新日:2023/06/19
圧倒的実績を誇る、寸法測定の万能モデル
SmartScopeシリーズの中核モデル。測定対象を選ばない高品位光学系と豊富なオプションセンサー群の組み合わせで、寸法測定の効率改善、高精度化など多くのメリットをもたらします。
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YKT株式会社|最終更新日:2023/06/19
従来の画像処理技術では実現できていなかった塗装製品の外観検査をリアルタイムで検出可能なAIモデルにて実現。
リアルタイム塗装外観検査システム『SURF-AI』は、高速撮像機能(100μsec)と動画レベルの 秒間40枚の画像を検出処理することができる『SURF-AI』独自の検査AIによって、作業中や搬送中のラインを止めることなくリアルタイムで検査可能(特許第7188821号)。
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日本電計 ソリューション推進部|最終更新日:2023/06/13
最近登録された製品
【新製品】マルチファンクションジェネレータ WF1983 / WF1984発売!!必要な波形を容易に出力。 テストの品質および効率向上に。
中塗り、電着からトップコートまでオレンジピールを管理 【BYK】ウェーブ・スキャン
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