Semiconductor Inspection
半導体産業展の
カテゴリ一覧
最新の半導体検査・評価に関するあらゆる製品が一堂に会する専門Web展示会。Si半導体やダイヤモンド(C）、シリコンカーバイド（SiC）を使用したワイドバンドギャップ半導体から半導体を用いたパワーデバイスの検査や評価に関連した技術が揃い、比較検討の為の情報収集に便利です。
注目の製品
- 電気特性検査(23)
- 抵抗測定(3)
- 走査型電子顕微鏡（SEM）(1)
- 赤外分光法（FTIR）(4)
- 加速寿命試験(1)
- 熱サイクル試験(5)
- 外観検査(14)
- 寸法計測(16)
- 膜厚測定(2)
- 重ね合わせ検査(2)
- 欠陥検査(10)
- パッケージ検査(2)
- マニピュレータ(3)
- ICハンドラ(6)
半導体産業展に関するニュース
New Products 最近追加された製品
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エレクトロケミカルマイグレーション評価システム（リーク電流評価システム） (AMI)
エスペック株式会社
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導体抵抗評価システム (AMR)
エスペック株式会社
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ベンチマーキングレポート (ベンチマーキングレポート)
株式会社小野測器
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PicoScope 9400Aシリーズ (9404A-06/16/25/33)
Pico Technology
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PicoScope 3000Eシリーズ (3418E/MSO, 3417E/MSO, 3416E/MSO, 3415E/MSO)
Pico Technology
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高周波回路設計受託サービス (アンテナ設計・無線通信・技適)
株式会社Wave Technology
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電流プローブ・レンタルソリューション (SMFLR-20260316)
SMFLレンタル株式会社
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遮光吸収シート (スーパーブラックIR)
株式会社システムズエンジニアリング
