Semiconductor Inspection
半導体産業展の
カテゴリ一覧
最新の半導体検査・評価に関するあらゆる製品が一堂に会する専門Web展示会。Si半導体やダイヤモンド(C）、シリコンカーバイド（SiC）を使用したワイドバンドギャップ半導体から半導体を用いたパワーデバイスの検査や評価に関連した技術が揃い、比較検討の為の情報収集に便利です。
注目の製品
- 電気特性検査(22)
- 抵抗測定(3)
- 走査型電子顕微鏡（SEM）(1)
- 赤外分光法（FTIR）(4)
- 加速寿命試験(1)
- 熱サイクル試験(4)
- 外観検査(15)
- 寸法計測(18)
- 膜厚測定(2)
- 重ね合わせ検査(2)
- 欠陥検査(10)
- パッケージ検査(2)
- マニピュレータ(3)
- ICハンドラ(6)
半導体産業展に関するニュース
New Products 最近追加された製品
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静電容量式非接触厚さ計 (CL-7100 シリーズ)
株式会社小野測器
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180° RFハイブリッドカプラ 2.92mm 18-40GHz (XQY-HYD-18/40-180KE)
ウェーブクレスト株式会社
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電波暗室レンタルサービス (IEC、FCC、CISPR、VCCIなど各種国際規格に対応)
株式会社Wave Technology
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ミニボルテックスミキサー （速度調整可能） (VM30D-mini)
ウェーブクレスト株式会社
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コンパクトマイクロ波信号源 (AP5002A)
キーサイト・テクノロジー株式会社
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コンパクトRF信号源 (AP5001A)
キーサイト・テクノロジー株式会社
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神奈川試験室 (D-LAB)
日本電計株式会社
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ハンドヘルド蛍光X線分析計 (VANTAシリーズ 旧オリンパス科学事業)
エビデント・インスペクション・テクノロジーズ・ジャパン株式会社
