Semiconductor Inspection
半導体産業展の
カテゴリ一覧
最新の半導体検査・評価に関するあらゆる製品が一堂に会する専門Web展示会。Si半導体やダイヤモンド(C）、シリコンカーバイド（SiC）を使用したワイドバンドギャップ半導体から半導体を用いたパワーデバイスの検査や評価に関連した技術が揃い、比較検討の為の情報収集に便利です。
注目の製品
- 電気特性検査(22)
- 抵抗測定(3)
- 走査型電子顕微鏡（SEM）(1)
- 赤外分光法（FTIR）(4)
- 加速寿命試験(1)
- 熱サイクル試験(4)
- 外観検査(15)
- 寸法計測(18)
- 膜厚測定(2)
- 重ね合わせ検査(2)
- 欠陥検査(10)
- パッケージ検査(2)
- マニピュレータ(3)
- ICハンドラ(6)
半導体産業展に関するニュース
New Products 最近追加された製品
-
導体抵抗評価システム (AMR)
エスペック株式会社
-
温湿度センサー (EM300-TH)
ウェーブクレスト株式会社
-
リーク検知センサー (EM300-SLD/ZLD)
ウェーブクレスト株式会社
-
積層信号灯 LR10シリーズ (LR10シリーズ)
株式会社パトライト
-
エレクトロケミカルマイグレーション評価システム（リーク電流評価システム） (AMI)
エスペック株式会社
-
スペクトラムマスタ (MS2760A／MS2762A)
アンリツ株式会社
-
ベクトルネットワークアナライザ (MS4640B Series)
アンリツ株式会社
-
MP5000シリーズ モジュラ・プレシジョン・テスト・システム (MP5103)
株式会社テクトロニクス＆フルーク ケースレーインスツルメンツ社
