Semiconductor Inspection
半導体産業展の
カテゴリ一覧
最新の半導体検査・評価に関するあらゆる製品が一堂に会する専門Web展示会。Si半導体やダイヤモンド(C）、シリコンカーバイド（SiC）を使用したワイドバンドギャップ半導体から半導体を用いたパワーデバイスの検査や評価に関連した技術が揃い、比較検討の為の情報収集に便利です。
注目の製品
- 電気特性検査(20)
- 抵抗測定(1)
- 走査型電子顕微鏡（SEM）(1)
- 赤外分光法（FTIR）(4)
- 熱サイクル試験(3)
- 外観検査(15)
- 寸法計測(18)
- 膜厚測定(2)
- 重ね合わせ検査(2)
- 欠陥検査(10)
- パッケージ検査(1)
- マニピュレータ(3)
- ICハンドラ(6)
半導体産業展に関するニュース
New Products 最近追加された製品
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通路人数カウント (VS350)
ウェーブクレスト株式会社
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ウルトラToFピープルカウンター (VS135)
ウェーブクレスト株式会社
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スマートフォン用サーモグラフィ testo 860i (0563 0860)
株式会社テストー
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【斉藤光学】ズーム式 USB3.0 マイクロスコープ (SKM-Z200C-PC4)
斉藤光学株式会社
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C シリーズ音響/振動入力モジュール NI-9232 (784397-01)
日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計）
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NI-9204 (789113-01 / 789114-01)
日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計）
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電力管理ソフトウェア LinkAnyArts-PM (LA-4465,LA-4466,LA-4467)
株式会社高砂製作所
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【新製品】7シリーズDPOオシロスコープ (DPO714AX)
株式会社テクトロニクス＆フルーク
