車載半導体(MPU、PLD、ASICなど)の製品一覧

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コンフォーカルNEXIVでは明視野測定で不明瞭な画像でも3D形状より測定が可能なため、正確な測定形状評価/測定/ 検査を行えます。また、視野内一括測定による高速測定が実現できます。

従来の画像測定機では測定箇所ごとにオートフォーカス、測定検出を行うのに対し、コンフ ォーカルNEXIVでは数秒で視野内の3D形状を取得し、視野内の任意の高さ測定に加えて 2D測定も同時に行うことができます。

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株式会社ニコンインステック|最終更新日:2020/05/29

プローブでICチップにパルス注入、サイドチャンネルを解析!

ICテストシステム【ICI 03 L-EFTセット】は、高分解能IC測定ツールで、製造段階においてIC解析を行います。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2018/04/25

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