Products List 製品一覧(EMC・EMI関連)
EMC・EMI関連の製品一覧
全 542 件 見つかりました。
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/23
EFTカップリング イミュニティ ICテスト (P202 / P302 L-EFT set)
ICのパルス耐性を測定するためのパルスジェネレーター
IC のパルス耐性を判定するために使用されます。バースト/ESD デバイス テスト中、生成されたパルス状の妨害は、テスト対象デバイス内のすべての IC に到達します。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/23
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/17
フィールドバースト検出器 (BD11H )
ケーブル内のバースト電流または ESD 電流パルスを検出
検出された妨害パルスは検出器の LED に表示され、リレー出力 (無電位) または光ファイバー ケーブルを介して信号としてさまざまな評価機器に送ることができますウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/17
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/17
光信号伝送 バスシステム (CAN 100 set)
光信号伝送 バスシステム
EMC テスト中や大きな電位差 (高電圧) がある場合に、光ファイバーケーブルを介して高速 CAN 信号を伝送できます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/17
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
ミニバーストフィールドジェネレータ EMCプローブ（電界パルス） (P23 set)
極薄の先端
P23 の干渉パルスは、リセット、クロック、クォーツ、またはそれぞれの信号線などのテスト対象のデジタル IC 入力を通過して結合します。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
イミュニティ対策システム (E1 set)
開発段階でプリント基板の EMI 抑制に使用される EMC ツールのセット
E1 セットを使用して、バーストおよび ESD 干渉の原因を迅速に特定できます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
Eフィールドソース (ES08D)
IC ピンまたは導体の感度を決定するために使用されるプローブ チップ
テスト中、プローブ チップはピンまたは導電パスに接着されます。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
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ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
Eフィールドソース (ES05D)
高性能Eフィールドソース ES05D
導電パス、小型コンポーネントとそのコネクタ、ワイヤ、抵抗器やコンデンサなどの単一の SMD コンポーネントに配置するのに適しています。ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/01/15
