検索結果 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

検索結果の製品一覧

全23件見つかりました。検索キーワード：3次元

G200X ハイエンド薄膜機械的特性評価装置 (G200X Nanoindenter)

G200Xハイエンド薄膜機械的特性評価装置は、薄膜の機械特性評価に欠かせない、ダイナミックモードやスクラッチ試験、高速３D／４Dマッピング機能まで幅広い機能を装備可能な最新のナノインデンターです。

・ISO14577に準拠した国際規格の硬度測定法を使用・薄膜の硬度を自動測定！ロックウェルと同様に圧痕観察は不要・マイクロビッカースでは不可能な数mNレベルの押込み試験が可能　(膜厚の5～10分の1の押込み深さで硬度測定が可能）・薄膜のヤング率も測定可能・オートX-Y ステージを用いた多点自動測定・高精度ステージを用いたAFM/SPMオプション

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株式会社東陽テクニカ｜最終更新日：2020/11/26

アナライザ（磁束密度計） (UHS-1DS、 UHS-3DS)

表面の磁束密度や磁束量の分布を用途に応じて多次元に測定できます

磁石表面の磁束密度または磁束量分布を測定し、2次元、3次元表示します。回転測定、平面測定、または両方を測定します。着磁後の特性データも解析できます。

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日本電磁測器株式会社｜最終更新日：2020/10/06

iMicro 高性能薄膜機械的特性評価装置 (InForce1000 / InForce50)

InForce1000とInForce50の両ヘッドを付け替え可能で、薄膜の機械特性評価に欠かせない、ダイナミックモードやスクラッチ試験、高速3D/4Dマッピング機能まで幅広い機能を装備可能です。

InForce1000とInForce50の両ヘッドを付け替え可能で、薄膜の機械特性評価に欠かせない、ダイナミックモードやスクラッチ試験、高速3D/4Dマッピング機能まで幅広い機能を装備可能です。

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株式会社東陽テクニカ｜最終更新日：2020/10/06

マグネットアナライザー (MAD-310シリーズ)

いつでも誰でも同じ値〜再現性へのこだわり〜

磁束分布を自動測定し、着磁波形、各極の磁束量、着磁角度、面積を解析頂けます。 X・Y・Z座標のメモリ機能によるプローブ自動移動・復帰。プログラムによる自動測定が可能。

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株式会社ディー・エム・ティー｜最終更新日：2020/08/27

空間電磁波可視化システム (EPS-02Ev3)

ノイズ発生源の特定！EMI対策の効率化に！

電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、試作段階での事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。

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株式会社ノイズ研究所｜最終更新日：2020/08/04

動画解析ソフトウェア (TEMA)

2次元から3次元計測までサポートした高機能動体解析ソフトウェア

TEMAは強力な追跡アルゴリズムや、グラフ作成・補正フィルタ・数値変換・光学補正などの高度な解析機能を提供しており、世界中の様々な企業・研究所で利用されている高機能動体解析ソフトウェアです。 2次元計測だけでなく、3次元計測・6自由度計測・体積計測などの発展的なオプションも提供しており、お客様の計測内容に合わせたご提案が可能です。

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株式会社フォトロン｜最終更新日：2020/06/11

中型プローブ顕微鏡システム（SPM） (AFM5500M)

より正確なナノ3D計測

広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。

24,800,000円～(プローブステーション込み）

株式会社日立ハイテク｜最終更新日：2020/04/06

接触・非接触測定　アーム型3次元測定器　ファロースキャンアーム (FARO Quantum ScanArm)

いつでも、どこでも、簡単に。現場へ測定器を持ち運んで使用できるので、検査室へ部品を移動する手間が不要。セットアップもすぐに完了し、測りたいときに測定可能で、取扱いもとても簡単。

ブルーレーザーを採用した小型スキャナーを搭載のアーム型３次元測定器。接触測定では要素を高精度に測定。一体型の３Dスキャナーで部品の複雑な形状や自由形状をスキャンし、デジタル化。ＣＡＤデータとの比較検査、加工途中での検査のほか、受入検査、初回品検査など、さまざまな用途で使用可能。１．５ｍから４ｍまで５サイズから選べます。

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ファロージャパン株式会社｜最終更新日：2020/02/19