非破壊検査装置の製品一覧

全 8 件 見つかりました。

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1330)

  粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
  
  「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)

  光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
  
  光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  中型プローブ顕微鏡システム（SPM） (AFM5500M)

  より正確なナノ3D計測
  
  広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # AFM # 原子間力顕微鏡 # 導電性 # 磁気力 # 力曲線 # 高分子 # ナノマニュピレーション # 表面粗さ

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  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/07/30

  YXLON（エクスロン） (Cheetah EVO )

  最高のX線検査装置 アセンブリ／ラボ検査で優れた拡張性発揮
  
  YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。

  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/07/30

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)

  ルーチンの品質管理を高精度、容易に コンタミネーション（残留異物）解析システム
  
  ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

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  # 洗浄度 # ISO16232 # コンタミ解析 # ＶＤＡ１９ # 残渣検査 # パーティクル

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  【ライカ】Ivesta 3 Fusion Optics グリーノ実体顕微鏡 (Ivesta 3E ／ Ivesta 3D ／ Ivesta 3 i（4Kカメラ内蔵タイプ）)

  驚きの立体感。スペックがすごいだけじゃない。 「もっと見えて、疲れない」実体顕微鏡での「基板修理」や「金属部品の傷検査」の効率のアップ！
  
  実績あるライカ特許技術FusionOpticsをエントリーモデルにも搭載。アポクロマート補正レンズに9倍ズーム。 焦点深度は従来のS6 Eの約3倍に増加。 作業スペースも122mmと広く、視野も広くなりました。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/15

  【ライカ】4K　デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)

  品質管理・外観検査のための Emspira3。　 パソコン本体不要！モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なＰＣレスデジタルマイクロスコープ。
  
  EmspiraはＰＣレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/15

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  # ４Ｋデジタルマイクロスコープ # ＰＣレス # 安価マイクロスコープ # 計測 # 操作簡単 # デジタルマイクロスコープ

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  株式会社テクノオプティス ｜最終更新日：2025/04/09

  色彩輝度計 (BM-7AC)

  分光放射計に迫る高精度な色度精度。 BM-7シリーズ次世代機！
  
  FPD（フラットパネルディスプレイ）や光源ランプの輝度・色度測定の標準測定機としてご使用していただいております、ロングセラー製品BM-7シリーズの最新機種です。本製品は高い色度精度と高速化をリーズナブルに実現、光源色測定分野でのインライン測定や光源の光量管理などの用途に最適です。また、当社製の計測器器からのダイレクト色補正により、安定した計測品質を提供します。

  株式会社テクノオプティス ｜最終更新日：2025/04/09

  # 輝度 # 高速測定 # 色度 # 手軽

New Products 最近追加された製品

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  インパルス巻き線試験機 (ST-1K)

  ウェーブクレスト株式会社

  # ST1K # 高精度測定 # コロナ数比較(CORON) # コロナ量(COROS) # レンズ誤差率(LPE) # コロナ放電波形波 # 破壊電圧分析 # 電気自動車モーター # サージテスター # 巻線製品メーカー

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  3D光学プロファイロメーター (HPS-DBL60S)

  ウェーブクレスト株式会社

  # 3Dプロファイル # 半導体検査 # 光学センサー # PCB検査 # 非接触測定 # 精密形状測定 # 高速検査 # フラッシュ検出 # 高精度測定 # ビジョン制御

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  外部センサー入力型 デジタルハンディタコメータ (HT-6200)

  株式会社小野測器

  # タコメータ # 回転 # ガソリン # ディーゼル # EV # HEV # 電気自動車 # モーター # エンジン

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  モーター&エンジン回転計 (CT-6710)

  株式会社小野測器

  # エンジン # 回転 # EV # HEV # ディーゼル # ガソリン # 回転速度

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  近赤外線対応デジタルカメラ　GFX100 II IR (GFX100 II IR 　　)

  富士フイルムイメージングシステムズ株式会社

  # 近赤外線 # GFX100Ⅱ

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  積層情報表示灯 (LA6-POE)

  株式会社パトライト

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  積層信号灯（Φ60）シグナル・タワー LR6（M12コネクタ仕様） (LR6シリーズ)

  株式会社パトライト

  # 工数削減 # 装置 # 設備 # メンテナンス # 配線 # 工作機械 # 半導体製造

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  FASTCAM Mini Rシリーズ (FASTCAM Mini R5-4K)

  株式会社フォトロン

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