外観検査装置の製品一覧

全 63 件 見つかりました。

• 

  資料ダウンロード

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/10/24

  【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)

  ルーチンの品質管理を高精度、容易に コンタミネーション（残留異物）解析システム
  
  ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/10/24

  資料ダウンロード

  # 洗浄度 # ISO16232 # コンタミ解析 # ＶＤＡ１９ # 残渣検査 # パーティクル

• 

  資料ダウンロード

  ハルツォク・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/10/15

  試料埋込機『ECOPRESS シリーズ』 (エコプレス　シリーズ)

  顕微鏡観察用試料作成のための自動埋込装置
  
  鉄鋼・非鉄金属の組織観察、硬度測定などを容易にする埋込機です。

  ハルツォク・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/10/15

  資料ダウンロード

• 

  資料ダウンロード

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

  モニタ接続タイプ　ズーム式フルハイビジョンマイクロスコープ (SKM-Z200C-FHD2)

  クリアで鮮やかな画像を、リアルタイムでモニタに表示。 コンバージョンレンズ(2種：オプション)の利用で、42.5x～1020xまでをカバーする高倍率機種。
  
  研究機関や製品開発、品質管理部門での人気が高いマイクロスコープです。 オプション照明なども多く、組み合わせることで用途が広がる便利さも選ばれる理由の一つです。

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/29

  資料ダウンロード

  # マイクロスコープ # デジタルマイクロスコープ # 表面観察 # 外観検査 # 顕微鏡

• 

  資料ダウンロード

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/26

  【斉藤光学】ズーム式　USB3.0 マイクロスコープ (SKM-Z200C-PC4)

  滑らかな動きで、高画質な画像を実現！
  
  待望の新製品！ 画質の良さと作業性の高さを両立

  斉藤光学株式会社 ｜最終更新日：2025/09/26

  資料ダウンロード

  # 新製品 # マイクロスコープ # USB3.0 # 外観検査 # 顕微鏡 # 表面観察 # デジタルマイクロスコープ

• 

  資料ダウンロード

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/09/09

  3D光学プロファイロメーター (HPS-DBL60S)

  ナノ精度で、あらゆる表面を瞬時に可視化。HPS-DBL60Sが、非接触3D測定の常識を塗り替える。
  
  HPS-DBL60Sは、分光共焦点方式を採用した非接触3D光学プロファイロメーターです。黒色ゴムや透明体にも対応し、2D画像と3D形状を同時取得。高速・高精度で微細形状の解析を実現します。

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/09/09

  資料ダウンロード

  # 3Dプロファイル # 半導体検査 # 光学センサー # PCB検査 # 非接触測定 # 精密形状測定 # 高速検査 # フラッシュ検出 # 高精度測定 # ビジョン制御

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1330)

  粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
  
  「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)

  光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
  
  光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  中型プローブ顕微鏡システム（SPM） (AFM5500M)

  より正確なナノ3D計測
  
  広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # AFM # 原子間力顕微鏡 # 導電性 # 磁気力 # 力曲線 # 高分子 # ナノマニュピレーション # 表面粗さ

• 

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲ (TM4000Plus/TM4000)

  「次世代の人財のためのMiniscope®」ここに誕生
  
  もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品（生産性向上設備（A類型））です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面観察 # 無機成分分析 # EDS # EDX # SEM # 電子顕微鏡 # 顕微鏡 # 卓上型 # 微細形状 # 高解像度

• 

  資料ダウンロード

  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/07/30

  YXLON（エクスロン） (Cheetah EVO )

  最高のX線検査装置 アセンブリ／ラボ検査で優れた拡張性発揮
  
  YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。

  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/07/30

  資料ダウンロード

New Products 最近追加された製品

• 

  スペクトラムマスタ (MS2760A／MS2762A)

  アンリツ株式会社

• 

  ベクトルネットワークアナライザ (MS4640B Series)

  アンリツ株式会社

• 

  パルスカウンター LoRaWAN® (EM300-DI)

  ウェーブクレスト株式会社

• 

  レーダー距離/レベルセンサー LoRaWAN® (EM410-RDL )

  ウェーブクレスト株式会社

  # 非接触レーダー測定 # 高精度レーダー技術 # LoRaWAN®長距離通信 # クラウド連携対応 # 超低消費電力設計 # 簡単設置・ゼロメンテ # 屋外耐候性IP67 # 多用途フィールドIoT # タンク・河川・貯水池対応 # LoRaWANクラスA.B対応

• 

  MP5000シリーズ　モジュラ・プレシジョン・テスト・システム (MP5103)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク　ケースレーインスツルメンツ社

  # モジュール型計測システム # 高精度テスト # 自動計測システム # 電子機器評価 # 信号測定 # 試験自動化 # 製品検証 # 研究開発支援 # 測定ソリューション # ケースレーインスツルメンツ

• 

  R&S®MXO3 オシロスコープ (MXO3)

  ローデ･シュワルツ･ジャパン株式会社

  # オシロスコープ # MXO # デジタルオシロスコープ # プローブ

• 

  Nigel AIアドバイザ (-)

  日本ナショナルインスツルメンツ NI（日本電計）

• 

  アース導通試験器 (TOS6210)

  菊水電子工業株式会社

prev next

計測・試験機器総合
Web展用語集

用語集キーワード検索

頭文字検索

• ア
• イ
• ウ
• エ
• オ
• カ
• キ
• ク
• ケ
• コ
• サ
• シ
• ス
• セ
• ソ
• タ
• チ
• テ
• ト
• ナ
• ニ
• ネ
• ノ
• ハ
• ヒ
• フ
• ヘ
• ホ
• マ
• ミ
• ム
• メ
• モ
• ユ
• ラ
• リ
• ル
• レ
• ロ
• A
• B
• C
• D
• E
• F
• G
• H
• I
• J
• L
• M
• N
• O
• P
• Q
• R
• S
• T
• U
• V
• W
• X
• Z
• 3
• 4
• 6

新着計測器用語

• LDP
• CQD
• LoRaWAN
• EVM
• レゾルバ

用語集ランキング

• 校正電圧（CAL）
• 4端子抵抗測定法
• CIEDE2000色差式
• エリアジング
• 固有誤差
• サバール板
• CIE標準分光視感効率
• 曲線因子
• IC開封装置
• 許容信号源抵抗
• プリトリガ
• レクタンギュラ窓（矩形窓）
• 振動速度・振幅・加速度
• FTA
• CIE標準イルミナント

Web展用語集を見る