Glossary 用語集(TOF-SIMS)
TOF-SIMS
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【Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry】飛行時間型二次イオン質量分析法。超高真空下で試料に一次イオンを照射すると、資料の極表面（１～3nm）から二次イオンが放出される。二次イオンを飛行時間型（TOF型）質量分析計へ導入することで、試料最表面の質量スペクトルが得られる。この際に一次イオン照射量を低く抑えることにより、表面成分を化学構造を保った分子イオンや部分的に開裂したフラグメントイオンとして検出することができ、最表面の元素組成や化学構造の情報が得られる。
計測・試験機器総合
New Products 最近追加された製品
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Pico Technology
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高周波回路設計受託サービス (アンテナ設計・無線通信・技適)
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BLE RS-232C 変換アダプター (RS-BT62BLE)
ラトックシステム株式会社
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錠剤成型用アトラス自動油圧プレス (25XXX)
株式会社システムズエンジニアリング
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8K対応 1入力4出力HDMI分配器 (RS-HDSP4-8K)
ラトックシステム株式会社
