微細な電界を精密に制御。Langer ES01が、EMC試験の信頼性と再現性を次のレベルへ導きます。
LangerのES01は、EMCイミュニティ試験用のEフィールドソースです。微細な電界を近接照射し、SMD部品や導電パスの電磁耐性評価に最適。高精度かつ再現性のある試験環境を提供します。
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LangerのES01は、EMCイミュニティ試験用のEフィールドソースです。微細な電界を近接照射し、SMD部品や導電パスの電磁耐性評価に最適。高精度かつ再現性のある試験環境を提供します。
このフィールド ソースは、5 ~ 10 cm の範囲の平面または線状の弱点をパルス化するのに適しています。範囲はフィールド ソース ES 02 と ES 00 の間です。ES 01 は、アセンブリへの妨害電流の結合にも使用できます。


★『イミュニティ開発システム E1 set 』で販売しております。