精密な電界照射で、EMC試験の信頼性を強化。Langer ES00が、微細領域の耐性評価をスマートに支援します。
LangerのES00は、EMCイミュニティ試験向けのEフィールドソースです。微弱な電界を近接照射し、SMD部品や回路の電磁耐性評価に活用可能。高精度で再現性のある試験を支援します。
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LangerのES00は、EMCイミュニティ試験向けのEフィールドソースです。微弱な電界を近接照射し、SMD部品や回路の電磁耐性評価に活用可能。高精度で再現性のある試験を支援します。
ES 00 は、大きな (150 cm²) 電気結合、またはフィールド ソース ヘッドのエッジも直線状である電気結合を可能にします。E フィールドの影響を受けやすい弱点は、多くの場合、10 ~ 15 cm 以上に及びます (LCD ディスプレイ、バス システム)。ES 00 のような大きなフィールド ソースは、このような弱点を検出します。ES 00 は、アセンブリへの妨害電流の結合にも使用できます。


★『イミュニティ開発システム E1 set 』で販売しております。