半導体・IC測定器・インサーキットテスタの製品一覧
全60件見つかりました。
耐荷重：標準180 kgまで。オンデマンドで最大250 kg (550 ポンド) ハンドラードッキングプロ
【主な特徴】
●複数の直線運動と回転運動が可能
●個々のセットアップ要件に対応する多数の追加機能
●幅広いテストヘッドに対応
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/03/06
テストヘッドの搬送とハンドリングのためのスマート・ソリューション
【主な特徴】
●移動式ファイナルテスト専用マニピュレーター
●DUTアップ＋DUT垂直ドッキングのためのコスト効率に優れたソリューション
●移動式設計により、最大限の柔軟性と省スペースを実現
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/03/06
次世代マニピュレーター
●負荷容量：最大750kg
●カウンターウェイトを使用せず、床荷重を約40%軽減。
●垂直キャリア用アームシステム機能により、プローバ／ハンドラーのセットアップ時の柔軟性が向上。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/03/05
大量生産テスト環境における数十万個のICパッケージ挿入に対応
【主な特徴】
●ショートワイピングストローク（SWS）技術
●多用途でコスト効率に優れています
●アドバンス・コンタクト・フィニッシュ（ACF）技術
●サーマル・コンディショニング・チャンネル（TCC）テクノロジー
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/02/29
中電力から高電力テストアプリケーションまでのミックスシグナルおよび車載IC向けの業界をリードする高精度サーマルコンタクトソリューション
Gamma™ : オフセット（ICパッケージとロードボードの両端が垂直になっていない状態） 高性能テスト用接触ソリューションで、ラボでの初期特性評価から量産テスト環境まで対応します。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/02/29
大量生産テスト環境を通じて設計および検証されています。
取り付けが簡単になり、破片が最小限に抑えられ、清掃の必要性が長くなり、メンテナンスの時間とコストが最小限に抑えられます。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/02/29
様々な高周波アプリケーションに最適、ミリ波やレーダー関連に対応可能
【主な特徴】
●ピッチ範囲：350μm～800μm
●寿命：100,000T/D以上
●接触抵抗：100mΩ以下
●接触力：10～40g/p
●最大過負荷：250μm以上
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/02/22
長時間の無人検査が可能なマルチトレイ設計
【主な特徴】
●自動テスト 自動テストとトレイ投入
●モードA：Bin1/NG材料仕分けトレイ
●モードB：トレイイン＆トレイマッピング
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/02/22
ディスクリートおよびICテスト用に設計された高速タレットテスト＆ビジョンハンドラ
ジョン検査、電気機能検査に加え、レーザマーキング、ソーティング、デテーピング、テーピングなどのオプション機能を搭載しています。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/02/22
大量のマルチサイトICおよびイメージセンサー試験用に設計されています。
実際の環境条件をシミュレートし、25℃～175℃の周囲温度と高温環境下でDUTの性能と信頼性をテストします。また、シングル、デュアル、クワッド、オクタのテストサイトをサポートし、幅広いパッケージのテストが可能です。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/02/22
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