太陽光発電の製品一覧

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  株式会社データ・テクノ　 ｜最終更新日：2026/03/03

  シリアル(RS-232C)通信ロガー　SDロガー5 (DT-SDL5)

  シリアルデータをPC不要でSDカードに記録！
  
  RS-232C通信データを直接SDカードに記録。 シリアルプリンターやPCの代りにデータを記録出来ます。

  株式会社データ・テクノ　 ｜最終更新日：2026/03/03

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  原田産業株式会社 ｜最終更新日：2026/02/05

  【米国プロテンピス社製】デュアルバンド対応組込GNSS受信モジュール　ICM SMT 720 (121228-00)

  時刻同期システム設計・製造用高信頼性GNSS受信チップ。対応衛星：GPS:L1/L5、Galileo:E1/E5、Beidou:B1/B2C、GLONASS:G1、インドIRNSS、準天衛星みちびき
  
  ICM SMT 720は組み込み向け超小型GNSSレシーバモジュールです。また1PPS出力に加えて10MHz出力機能を搭載しております。さらに、アンテナからGNSS信号を受信できない場合でも、内部クロックにより自走が可能なチップです。また、デュアルバンド対応のGNSSアンテナ（バレット720DF）との組み合わせに最適です。

  原田産業株式会社 ｜最終更新日：2026/02/05

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  # 時刻同期 # GPS # GNSS # レシーバ # 受信機 # 組込み

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  株式会社Wave Technology ｜最終更新日：2025/12/23

  製品含有化学物質調査代行サービス (環境負荷物質調査/REACH調査/RoHS調査/IMDS調査)

  使用部品の含有化学物質調査から製品の環境データ作成まで調査業務を代行いたします。
  
  環境負荷物質調査でお困りではありませんでしょうか？●お客様からchemSHERPAやIMDSの調査依頼があったが内容がわからない●chemSHERPA調査やIMDS調査の方法がわからない/手間がかかる/人手が足りない●部品メーカ様やサプライヤー様に調査を依頼しても規制の内容を理解しておらず、説明に時間を費やす●部品メーカ様やサプライヤー様に調査を依頼しても、なかなかデータが出てこない

  株式会社Wave Technology ｜最終更新日：2025/12/23

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  日置電機株式会社 ｜最終更新日：2025/11/14

  メモリハイコーダ (【廃止品】MR8847-51、-52、-53)

  ●多CH・絶縁・頑丈・高速・長期記録、現場や研究開発試験にグローバル スタンダード レコーダ●高速サンプリング波形判定機能搭載●発生と記録の二役を一台で実現、測定した不具合波形を再現出力
  
  ●搭載メモリを選べる3モデル●高速サンプリングを活かした、波形判定機能搭載●20MS/sの高速サンプリング、ch間絶縁●アナログ16ch+ロジック標準16ch〜アナログ10ch+ロジック64ch●粉塵が入りにくい構造で、悪環境に強い●油汚れに強い大型コーティングキートップ●ワンタッチ1秒で紙充填、素早く印字50mm/s

  日置電機株式会社 ｜最終更新日：2025/11/14

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1330)

  粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
  
  「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

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  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)

  光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
  
  光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。

  株式会社 日立ハイテク ｜最終更新日：2025/08/19

  # 表面微細観察 # 白色干渉顕微鏡 # 三次元計測 # 非接触３次元計測 # 高精度形状測定 # 膜厚測定 # 形状測定 # 表面粗さ

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  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/07/30

  YXLON（エクスロン） (Cheetah EVO )

  最高のX線検査装置 アセンブリ／ラボ検査で優れた拡張性発揮
  
  YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。

  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/07/30

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  株式会社フローベル ｜最終更新日：2025/07/02

  超高感度近赤外線カメラ_SWIRカメラ (FS-1700IRP)

  超高感度近赤外線カメラ　 広帯域な高感度(400nm～1700nm) 高品質SWIRカメラ
  
  □134万画素InGAsカメラ可視から近赤外線まで受光可能（400nm～1700nm） □ベルチェ冷却採用 □画像鮮明化機能（本体内蔵） □71fps表示でライブ画像がなめらか □近赤外線（SWIR）用のカメラからレンズ・照明・画像処理までトータル的に提案します □専用PCで、確実に記録（オプション） □弊社オートフォーカスユニット接続可能

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2025/07/02

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  # SWIRカメラ # 近赤外 # 異物検査 # 波長 # 画像鮮明化

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  株式会社フローベル ｜最終更新日：2025/07/02

  高速オートフォーカスユニット (MimicⅡ-AF/CL)

  ◎画像AF ◎高速 ◎PCレス
  
  ■オートフォーカスを高速・高精度で実現し、円滑な作業を実現 ■フォーカス繰り返し精度を重視した画像コントラスト方式を採用 ■顕微鏡や装置などに後付けが可能な凡庸性の高い小型ユニット ■カメラは様々な機種に対応が可能※メーカー・対応機種はご相談ください

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2025/07/02

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  株式会社フローベル ｜最終更新日：2025/07/02

  6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡　表裏位置ずれ計測システム (TOMOS-60XY)

  両面顕微鏡計測システム 電動ＸＹステージとオートフォーカス機能を搭載
  
  ◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 ◆6インチウエハー　XY電動ステージ

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2025/07/02

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New Products 最近追加された製品

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  BLE RS-232C 変換アダプター (RS-BT62BLE)

  ラトックシステム株式会社

  # RS-232C変換 # シリアル変換 # Bluetooth # BLE

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  錠剤成型用アトラス自動油圧プレス (25XXX)

  株式会社システムズエンジニアリング

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  ハンドヘルドタイプ小型ラマン分光器 (SERSTEC Arx mkll)

  株式会社システムズエンジニアリング

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  8K対応 1入力4出力HDMI分配器 (RS-HDSP4-8K)

  ラトックシステム株式会社

  # HDMI分配器 # 8K60Hz # 4K120Hz

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  バッテリー・テスト＆エミュレーション (PW9253A)

  キーサイト・テクノロジー株式会社

  # バッテリー # 電源 # 回生 # 双方向 # 電池 # エミュレーション

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  CB2シリーズ (PAC-CB2-CXP(SFP))

  オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

  # 補償光学 # 半導体 # バイオイメージ # イオンフラックス # 量子コンピューター # CMOSカメラ

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  iXon Ultraシリーズ (DU-897U/888U3)

  オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

  # イオントラップ # 天文測定 # 量子イメージング # 高速イメージング # 単一分子発光 # 超解像 # EMCCDカメラ

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  【新製品】ポータブル吸光度計 POTA (PTW)

  マイクロニクス株式会社

  # 吸光度計

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