シリコンフォトニクスやフォトニック集積チップの送信機および受信機、変調器、光源などの特性評価に
「ベクトルネットワークアナライザ」「O/E校正モジュール」「E/O変換器」の3つから構成されるモジュラータイプを採用 測定周波数範囲や信号光波長に応じて柔軟な組み合わせが可能です。
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「ベクトルネットワークアナライザ」「O/E校正モジュール」「E/O変換器」の3つから構成されるモジュラータイプを採用 測定周波数範囲や信号光波長に応じて柔軟な組み合わせが可能です。
● 「 ベクトルネットワークアナライザ」「O/E校正モジュール」「E/O変換器」で構成するモジュラー設計により、測定周波数範囲や信号光波長に応じた柔軟な組み合わせが可能
● 波長850、1310、1550 nmのO/E、E/O、O/Oデバイス測定に対応
● エラー補正された伝送特定、群遅延、リターンロス測定を高速かつ正確に測定
● 優れた変換特性を持つE/Oコンバーター(MN4775BA)による、一貫性のある測定が可能
● ディエンベディングと12ターム校正により、高い安定性と再現性がある測定を提供
● E/O変換器(MN4775A)とO/E校正モジュール(MN4765B)を追加することで、異なる波長に