ISO 11452-3/5対応!車載電子機器の電磁界ノイズによるイミュニティ試験
車載電子機器および接続されるハーネスやDUT本体が強い電磁界に曝された際の耐性を評価する試験システムです。
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車載電子機器および接続されるハーネスやDUT本体が強い電磁界に曝された際の耐性を評価する試験システムです。
TEM Cellおよびストリップラインに供試品を設置し、発生する電磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性を評価します。
● 準拠規格名:SAE J1113/23/24, ISO 11452-3/5, 2004/104EC, 97/24/EC, JASO D001-94/D011,
その他各社メーカー規格
● TEM-CELLは上限周波数1GHz/500MHz/400MHz/200MHzタイプをご用意
TEM Cellでの試験では、Cell 内の中心導体と外部導体の平行平板間に供試品を設置し、平行平板間で発生する電磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性を評価します。
ストリップラインでの試験ではストリップラインの平行平板間にハーネスを設置し、平行平板間に発生する電磁界に曝し規定の周波数および試験レベルで耐性の評価をします。
測定周波数範囲 | 10kHz~400MHz |
試験レベル | 200V/m |
変調方式 | AM 1kHz 80% |
代表的な準拠規格名 | SAE J1113/24,ISO 11452‐3,(TEM Cell) SAE J1113/23,ISO 11452-5 (ストリップライン) R10, 2004/104EC(旧:95/54EC),97/24/EC JASO D001-94,JASO D011 その他各社メーカー規格 |
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