Glossary 用語集(飛行時間型二次イオン質量分析法)
飛行時間型二次イオン質量分析法
-
飛行時間型二次イオン質量分析法。超高真空下で試料に一次イオンを照射すると、資料の極表面（１～3nm）から二次イオンが放出される。二次イオンを飛行時間型（TOF型）質量分析計へ導入することで、試料最表面の質量スペクトルが得られる。この際に一次イオン照射量を低く抑えることにより、表面成分を化学構造を保った分子イオンや部分的に開裂したフラグメントイオンとして検出することができ、最表面の元素組成や化学構造の情報が得られる。TOF-SIMSとも呼ばれる
計測・試験機器総合
New Products 最近追加された製品
-
UVライト硬化チャンバー (RAYVEN QUAD)
ウェーブクレスト株式会社
-
Inverter Test System (ITS)
日本ナショナルインスツルメンツ（日本電計）
-
モーター評価サービス (テストベンチ)
日本電計株式会社
-
光コム多点同時振動計 (OptoComb MPV (Multi-Points Vibrometer))
株式会社OptoComb
-
A-PHY対応デシリアライザボード (API-7044-FT)
株式会社ネットビジョン
-
Analog Devices社 GMSL評価Kit用接続ボード (NV061-R, -Q)
株式会社ネットビジョン
-
マニピュレータ 個別装置 (atlas)
ウェーブクレスト株式会社
-
ユニバーサルマニピュレータ (orion / pluto)
ウェーブクレスト株式会社
