接合部の信頼性を効率よく評価
低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部やコネクタ接点部の導体部分の微小抵抗値を連続測定し、データ収録およびデータ処理の自動化を実現しています。試験規格に沿った温度サイクル試験器との連動により接続信頼性評価を正確に効率よく行えます。
Menu
低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部やコネクタ接点部の導体部分の微小抵抗値を連続測定し、データ収録およびデータ処理の自動化を実現しています。試験規格に沿った温度サイクル試験器との連動により接続信頼性評価を正確に効率よく行えます。
◆ 直流電流計測方式 UDタイプ
チャンネル構成:標準40チャネル(最大280チャネル/ラック)
測定間隔:40チャネル12秒以内(100mΩの場合)
抵抗測定範囲:1×10-3~1×108Ω(1mΩ~100MΩ)
測定精度:10mΩ計測時、真値の±1%以内
100mΩ計測時、真値の±0.5%以内
測定レンジ:10mΩ,100mΩ,1Ω,10Ω,100Ω,1kΩ,10kΩ,100kΩ,1MΩ,10MΩ,100MΩ
および Auto
◆ 交流電流計測方式 UAタイプ
チャンネル構成:標準40チャネル(最大280チャネル/ラック)
測定間隔:40チャネル12秒以内(100mΩの場合)
抵抗測定範囲:1×10-3~3×103Ω(1mΩ~3KΩ)
測定精度:10mΩ計測時、真値の±1%以内
100mΩ計測時、真値の±0.5%以内
測定レンジ:3mΩ,30mΩ,300mΩ,3Ω,30Ω,300Ω,3kΩ
および Auto
◆ 主な特長
・独自のマルチスキャン方式と国際標準対応の計測器を搭載。
・直流電流計測と交流電流計測の2タイプ。
・絶対値判定方法・変化率判定方法の2種の故障判定が可能。
・パソコンでリアルタイム測定。測定中おいても、データ編集・閲覧が可能。
・冷熱衝撃装置との連動により試験効率を大幅に向上。
◆ 評価対象
・プリント基板
・半導体のアンダーフィル
◆ 主な用途
・プリント基板スルーホール導体評価
・はんだ接続性評価
・BGA、CSP など接続性評価
・コネクタ接触抵抗評価
・FPC 耐久性評価
・スイッチ、リレーなど各種接触抵抗評価
・異種金属の接合評価
・導電性接着剤、異方性導電膜(ACF)接合性評価
・各種接続材料の接続性評価
◆ 電流計測方式による2機種ラインナップ
・直流電流計測(DC印加仕様) 抵抗測定範囲:1mΩ=100MΩ
・交流電流計測(AC印加仕様) 抵抗測定範囲:1mΩ=3kΩ
◆ 信頼性の追求
国際基準にトレーサブルな計測器・微小抵抗計を搭載し、測定データへの信頼性を追求しました。
ご要望に応じ精度を維持するための校正サービスもご提供いたします。(ISO/IEC 17025適合)
◆ 1×10⁻³ から 1×10⁸ Ω の広範囲測定を実現
4 端子測定方式により、ケーブル先端で 1×10⁻³ ~ 1×10⁸ Ω(DC 印加仕様)、
1×10⁻³ ~ 3×10³ Ω(AC 印加仕様)の広範囲な導体抵抗値を高精度に測定します。
◆ 多チャネル連続測定により作業効率の大幅な向上
標準装備の 40ch を 40ch 単位で最大 480ch まで増設可能。
複数の目的や接続対象デバイスの数などに合わせてご使用いただけます。