株式会社 日立ハイテク TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲ (TM4000Plus/TM4000)

「次世代の人財のためのMiniscope®」ここに誕生

もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品(生産性向上設備(A類型))です。

製品名
TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲ
型番
TM4000Plus/TM4000
価格
お問合せ下さい
発売日
発売中
  • TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲ
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TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲの特長

画像観察まで3分。目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。

観察・分析のフレキシビリティ

多彩なデータをオートで取得。切替も迅速!

*1 TM4000PlusⅡの機能です

迅速な元素マップ*2の取得が可能

*2 オプション

Camera Navi*を使えば、こんなに簡単

カメラナビ画像で迷わず視野探し、MAP機能で観察をサポート

* オプション:カメラナビゲーションシステム

基本操作はこんなに簡単・スピーディ

画像観察までわずか3分。

目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。

 

 

 

 

Report Creatorで手軽にレポート作成

画像とテンプレートを選択するだけでMicrosoft Word、Excel、PowerPoint 形式のレポートが完成

絶縁物試料でも前処理なしでそのまま観察可能です。

帯電現象を抑える「帯電軽減モード」

帯電しやすい試料は「帯電軽減モード」を用いることで、帯電を抑えて観察できます。
「帯電軽減モード」への切り替えは、ソフトウエア上からマウスクリックで行えます。

低真空で多彩な観察が可能

帯電しやすい粉末や含水試料などの試料も目的にあわせて観察できます。

低真空下での二次電子像(表面形状)観察を実現します。

前処理不要で絶縁物や水分・油分を含む試料の表面観察を実現

これまでの導電性試料の観察だけでなく、絶縁物や含水・含油試料まで前処理なしでそのまま観察できます。二次電子像⇔反射電子像の切替も素早く行えます。

高感度低真空二次電子検出器

高感度低真空二次電子検出器(UVD)を採用。電子線と残留ガス分子との衝突によって発生した光を検出することにより、二次電子情報を持った画像を観察することができます。また、本検出器をコントロールすることにより、電子線照射により発生した光を検出することでCL情報(UVD-CL:CL情報を含んだ画像)を取得することが可能です。

*高感度低真空二次電子検出器の検出原理

加速電圧20 kV対応

TM4000Ⅱ/ TM4000Plus IIは加速電圧20 kV対応になりました。
EDS分析(オプション)において、より高計数の分析が可能となりました。

加速電圧20 kVによるEDSマッピングの高S/N化


Contact TM4000PlusⅢ/TM4000Ⅲに関するお問い合わせ

製品やサービスに関するお問い合わせやご相談は、下記のフォームをご利用下さい。後日、ご要望に応じてご連絡を差し上げます。
※法人のお客様のみの対応となります。ご了承ください。

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ご要望に沿った製品提案を行うために、参考情報として下記の質問にお答え下さい。

観察したい試料は何ですか? *

既にSEM(走査電子顕微鏡)をお使いですか? *

元素分析(EDS)付加を希望しますか? *

出展企業情報

企業名
株式会社 日立ハイテク
企業PR
高級精密理科学機器(電子光学機器・分析機器)、計測検査機器、半導体関連機器、産業機器、医用機器の製造 ・ 販売 ・ 開発研究、およびそれに附帯する製品 ・ 部品の加工委託、保守 ・ サービス、周辺機器の仕入 ・ 販売