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Q-Lab社のQ-SUN【Xe-8】は空冷式ランプの採用によりランプ交換等のメンテナンスが簡単です。また、大容量サンプルラックの採用、３種類 (340 nm, 420 nm, 300～400nm)の照度センサーを標準搭載、ブラックパネル温度計も絶縁型、非絶縁型の両タイプの標準搭載により国内外のあらゆる試験規格に対応可能です。
３種類 (340 nm, 420 nm, 300～400nm)の照度センサーを標準搭載、ブラックパネル温度計も絶縁型、非絶縁型の両タイプを標準搭載。
シャワー方式もフロント、バック共に標準搭載のため、国内外のあらゆる試験規格に対応可能です。
従来のQ-SUN装置でもご好評をいただいておりますAUTOCAL(特許取得済)システムはXe-8でも採用しており、お客様での校正が簡単・迅速・安価に対応が可能です。
キャリブレーション用センサー設置イメージ キャリブレーションイメージ※画面はXe-3です。
| Xe-8-HBSE | ||
ブラックパネル温度計（照射時） ブラックパネル温度計（暗黒時） | BP※2 39～100℃ 25～45℃ | IBP※3 39～110℃ 25～45℃ |
| 槽内温度（CAT)：（照射時） 槽内温度（CAT)：（暗黒時） | 35～65℃ 25～45℃ | |
| 相対湿度（RH) | 20～95% | |
| サンプル照射面積 | 77.5 × 47.5cm = 11,560㎠ | |
| サンプル設置可能枚数（51 × 102 mm） | 最大162枚 | |
| サンプル設置可能枚数（67 × 145 mm） | 最大96枚 | |
| 装置本体外形寸法（W×H×D) | 204 × 173 ×104cm | |
| 装置本体重量 | 約518Kg | |
| 電気要件 | 3相 208/230 V(80 A)または400 V(50 A) | |
※2：非絶縁型ブラックパネル温度計 ※３：絶縁型ブラックパネル温度計
| Xe-8-HBSE（最小～標準～最大照度） | |||
| 光学フィルター | w/㎡@340nm | w/㎡@420nm | w/㎡@TUV （300nm～400nm) |
| Daylight-F | 0.25～0.80～1.30 | 0.45～1.50～2.40 | 20～75～125 |
| Daylight Q | 0.25～0.68～1.10 | ||
| Extended UV (-Q/B, -Quartz) | |||
| Daylight-B/B | |||
| Window (-Q, -B/SL) | 0.25～0.55～0.85 | 20～70～108 | |
| Window (-SF5, -IR) | － | 20～42～68 | |
米国Q-Lab社は1956年の創業より高品質で、信頼ある耐候性試験機メーカーとして世界的に高い評価を受けています。また、世界最大規模の屋外暴露試験場を有し、耐候性試験の受託、コンサルティングも行っています。
日本電計はQ-Lab社の国内代理店として、製品の販売、設置、保守、校正を行っております。ランプ等の消耗品、保守部品は低価格に抑えられており、保守費用(派遣、技術費）につきましては定額制となっておりますので、ランニングコストも低く抑えることができます。
 | Q-Lab社 促進耐候試験機 (QUV) |
| Q-Lab社のQUV促進耐候試験機は、太陽光、降雨、露によって引き起こされる劣化を再現し、屋外で数ヶ月あるいは数年に亘って起こる劣化を数日あるいは数週間という短期間で再現することができます。 | |
 | Q-Lab社 キセノン耐光性試験機 (Q-SUN:Xe-1,Xe-2,Xe-3) |
| Q-Lab社のQ-SUNキセノン試験機は、フルスペクトラムの太陽光と降雨によって生ずる劣化を再現します。Q-SUN試験機は、屋外では数か月、数年かかる劣化を、わずか数日または数週間で再現できます。 |
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