電子顕微鏡などのイメージング装置に搭載して、イメージングと機械特性評価を実現する新しいタイプのナノインデンターです。
ＮａｎｏＦｌｉｐは通常のインデンターでは困難な、微小領域の硬さ測定やマイクロピラーや粒子の圧縮試験をイメージング装置と同期しながら実現します。局所機械特性評価を可能とする、硬度・ヤング率マッピング機能などの拡張性も有します。
株式会社東陽テクニカ ｉｎ－Ｓｉｔｕナノインデンター (ＮａｎｏＦｌｉｐ)
ｉｎ－Ｓｉｔｕナノインデンターの特長
NanoFlipは、押し込み試験の第一人者Dr.Warren Oliverにより新たに設計された最新のナノインデンターで、小型で高精度なInForce50押し込みヘッドと、90°フリップ動作するサンプルステージを組み合わせ、サンプルの表面イメージングとその場のナノインデンテーションを実現します。
手のひらサイズの小型ボディーのため、電子顕微鏡（SEM）やFIB、各種光学顕微鏡、AFM（原子間力顕微鏡）、ラマン、XRDなど既存のイメージング装置に容易に組み込み、各種光学情報と機械特性の同時評価ができます。
特長
- 独自のフリップステージを採用
- ステージポジション変更でイメージングとインデントを切り替え
- 高精度InForce50アクチュエータを装備
- 既存のSEM, FIB, AFM, 光学顕微鏡,等へ組み込み可能
- ISO14577 Part 1準拠
- 連続剛性測定法(CSM)による硬度／ヤング率の深さ方向へのプロファイル測定
- ポリマーの局所動的粘弾性、高速マッピングNanoBlitz3D/4Dなどに対応
NanoFlipは、押し込み試験の第一人者Dr.Warren Oliverにより新たに設計された最新のナノインデンターで、小型で高精度なInForce50押し込みヘッドと、90°フリップ動作するサンプルステージを組み合わせ、サンプルの表面イメージングとその場のナノインデンテーションを実現します。
手のひらサイズの小型ボディーのため、電子顕微鏡（SEM）やFIB、各種光学顕微鏡、AFM（原子間力顕微鏡）、ラマン、XRDなど既存のイメージング装置に容易に組み込み、各種光学情報と機械特性の同時評価ができます。
特長
- 独自のフリップステージを採用
- ステージポジション変更でイメージングとインデントを切り替え
- 高精度InForce50アクチュエータを装備
- 既存のSEM, FIB, AFM, 光学顕微鏡,等へ組み込み可能
- ISO14577 Part 1準拠
- 連続剛性測定法(CSM)による硬度／ヤング率の深さ方向へのプロファイル測定
- ポリマーの局所動的粘弾性、高速マッピングNanoBlitz3D/4Dなどに対応
Contact
ｉｎ－Ｓｉｔｕナノインデンターに関するお問い合わせ
出展企業情報
- 企業名
-
株式会社東陽テクニカ
- 企業PR
- 東陽テクニカは”はかる技術で未来を創る”を企業理念とし、あらゆる分野において世界最高水準の計測器／計測技術をお客様に提供しています。製品の技術サポートはもちろん、計測システムのインテグレーション、自社製品開発、修理＆校正サービスなど様々な取り組みを行っております。
