あらゆる素材の硬さが分かる ナノインデンテーション試験機 5世代目の「ENT」
「ENT」シリーズ 5 世代目の超微小押し込み硬さ試験機。 測定環境の外乱を抑えることにより、高いデータの再現を実現した、親しみやすいGUIを備えた純国産のナノインデンテーション試験機です。
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「ENT」シリーズ 5 世代目の超微小押し込み硬さ試験機。 測定環境の外乱を抑えることにより、高いデータの再現を実現した、親しみやすいGUIを備えた純国産のナノインデンテーション試験機です。
・メッキ、硬質皮膜などの薄膜材料
・樹脂材料、フィルム系材料
・DLCなどの極薄膜
・機能性樹脂膜や表面改質膜
・微小粒子や粉体材料
・5 世代目の「ENT」
・測定環境の外乱を抑えることによる、高いデータ再現性
・純国産のため、実現できた親しみやすいGUI
・0.5 μN ~ 2,000 mN の幅広い試験荷重に対応
・薄膜、極表面、微小領域の硬さ・弾性率などの機械的特性が得られる
・荷重と変位の曲線を解析して特性を求めるため、圧痕観察不要
・ISO 14577-1/JIS Z 2255 に準拠
1, 温度管理機構
・サンプル、試験機の熱膨張を抑制
・風防内部を±0.1℃で温度管理
・測定部品には低熱膨張材(ノビナイト) を使用
・外部気流の影響を遮断
2, 高精度位置決めステージ
・自社開発の電子線描画装置用高精度ステージの技術を採用
・0.1μm ステップで位置決めが可能
・観察倍率2,000 倍で任意の場所を測定(標準対物レンズ20 倍、デジタルズーム併用時)
3, 除振機構
・振動に強いくさび形仕様の高精度ステージ
・アクティブ除振台を標準採用
4, ソフトウェア
・圧子先端補正、温度ドリフト補正、日常点検の注意喚起等の補助機能
・長年の実績で培った操作性
5, データ再現性
・振動や温度変化等の外乱の影響を抑えた機構で、データ再現性が向上
・連続測定においても安定したデータの取得が可能
6, メンテナンス性
・高荷重ユニット、低荷重ユニットの交換が簡易
・装置の校正をユニット交換により対応することで、装置ダウンタイムが低減