X線画像処理により電池内部の極板巻き状態を自動検査します。
正極と負極の極番を個別認識しその個数とズレ量を自動測定します。２式の画像処理装置がペアとなり個別にＸ線画像を入力して電池上下をインラインにて同時に検査します。
ソフトワークス株式会社 X線式自動巻きズレ検査装置 (BIS-100)
X線式自動巻きズレ検査装置の特長
X線式自動巻きズレ検査装置
BIS-100
X線式自動巻きズレ検査装置 (BIS-100) の特長
電池内部の正極と負極のズレ量が適切な範囲から外れるとリークなどの故障原因となります。特にリチウムイオン電池では故障が発火などの重大事故の原因と成り得るので全数X線検査する事が一般的です。しかし、金属ケースの外からX線で撮像した極板画像はコントラストが鮮明とは言えず自動検査は簡単では有りませ ん。その為に目視検査を行っているケースも多く有ります。
BIS100では正極と負極の輪郭特徴を周辺の輝度情報を含めた「らしさ」として評価する事により自動検査を実現しました。極板全てを個別認識してズレ量を測定するという信頼性の高い方式です。既に多くの装置が実際に自動検査の為に使用されていま す。X線撮像時の輝度ムラが大きい丸型電池でも自動検査が可能です。さらにオプションでリード形状の自動検査を行う事も可能です。
自動判定項目
負極から基準位置 変化値許容幅 正極から基準位置 負極最大値、正極最大値 負極から正極位置 極板高低差許容幅 ピッチ幅 負極最大値、正極最大値 外周から初極板までの許容幅
検査フロー
負極・正極最大上部検出 ⇒ 負極X座標位置検出 ⇒ 負極X座標整理処理 ⇒ 負極Y座標詳細検出 ⇒ 正極Y座標詳細検出
【測定画面(元画像)】 【測定結果画面】 
お見積り・ご質問等、お気軽にお問合せ下さい。
| X線式自動巻きズレ検査装置 BIS-100
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X線式自動巻きズレ検査装置 (BIS-100) の特長
電池内部の正極と負極のズレ量が適切な範囲から外れるとリークなどの故障原因となります。特にリチウムイオン電池では故障が発火などの重大事故の原因と成り得るので全数X線検査する事が一般的です。しかし、金属ケースの外からX線で撮像した極板画像はコントラストが鮮明とは言えず自動検査は簡単では有りませ ん。その為に目視検査を行っているケースも多く有ります。
BIS100では正極と負極の輪郭特徴を周辺の輝度情報を含めた「らしさ」として評価する事により自動検査を実現しました。極板全てを個別認識してズレ量を測定するという信頼性の高い方式です。既に多くの装置が実際に自動検査の為に使用されていま す。X線撮像時の輝度ムラが大きい丸型電池でも自動検査が可能です。さらにオプションでリード形状の自動検査を行う事も可能です。
自動判定項目
| 負極から基準位置 | 変化値許容幅 |
| 正極から基準位置 | 負極最大値、正極最大値 |
| 負極から正極位置 | 極板高低差許容幅 |
| ピッチ幅 | 負極最大値、正極最大値 |
| 外周から初極板までの許容幅 |
検査フロー
負極・正極最大上部検出 ⇒ 負極X座標位置検出 ⇒ 負極X座標整理処理 ⇒ 負極Y座標詳細検出 ⇒ 正極Y座標詳細検出
| 【測定画面(元画像)】 | 【測定結果画面】 |
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Contact
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出展企業情報
- 企業名
-
ソフトワークス株式会社
- 企業PR
- 現在のシステムをさらなるニーズで進化させます。 私達ソフトワークスは、テーマ＝条件に対し、解決法＝画像処理ソフト開発を考えます。照明などの光学系や機械系の検討から初め、機械系とのインターフェイス、技術系コンサルタントから具体的な画像処理ソフトの開発までを手がけます。 ■開発事例／ ワイヤボンディングの外観自動検査、半導体インマーク自動認識装置、X線によるLiイオン電池内部自動検査装置、半導パターンの欠陥検査装置、半導体ウェハのエッジ外観検査装置、液晶パターンの欠陥検査装置
