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株式会社東京精密 |最終更新日:2026/02/25
計測用X線CT装置 (ZEISS METROTOM 1500)
欠陥解析だけでなく、寸法・形状・幾何公差も計測できる広範囲・高精度・高画質の次世代X線CT装置
三次元座標測定機で培われた各軸の制御技術と超高精度位置決めステージ、高解像度フラットパネルディテクタ、ソフトウェアを採用するなど、これまでの観察用X線CT装置とは一線を画し、構造解析、機能検査、欠陥解析等の非破壊検査、樹脂成形部品やアルミダイカスト等、複雑な工業製品の内部形状の構造比較や内外寸法の高精度な計測まで、幅広く最適なソリューションを提案します。株式会社東京精密 |最終更新日:2026/02/25
