用語集一覧
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標準器
ある単位で表された量の大きさを具体的に表すもので，測定の基準として用いるもの。(測定）標準のうち，計器及び実量器を示す。備考：公的な検定又は製造業者における検査で計量の基準として用いるものを基準器という。（JIS Z 8103より）
標準不確かさ
一般的には標準偏差（１σ）で表される、試料平均値からのばらつき。
標準物質
モノを測るときの「基準となる物質」。測定装置の校正、測定方法の評価をするために用いる材料又は物質。標準試料（standard sample）という場合もある。
表面張力
表面をできるだけ小さくしようとする性質、またその力。水や水銀の粒子が丸くなるのは、表面張力による。単位長さあたりの力（N/m）で表す。水に界面活性剤を入れると、表面自由エネルギーが減少し、表面張力が急激に減少する。
開き角（輝度計の）
測定試料から対物レンズを見込んだ角度。
通常は、測定視野角より開き角が小さい状態で使用されるのが望ましいが、近接測定の場合開き角が大きくなるので、試料の配光特性を考慮する必要がある。
光閉じ込め効果
入射光の光利用効率を上げるために、表面にテキスチャ構造（微細な凹凸を持つ構造）をつけ、光を太陽電池セル内部に閉じ込めることによって、光の吸収が高まり短絡電流（Isc）が増大する効果。
表面粗さ Ra
中心線平均粗さ
粗さ曲線を中心線から折り返し、その粗さ曲線と中心線によって得られた面積を長さLで割った値をマイクロメートル(μm)で表わす。
表面粗さ Rmax
"最大高さ
断面曲線を基準長さLを抜き取った部分の最大高さを求めてマイクロメートル(μm)で表わす。傷とみなされるような並はずれて高い山や深い谷のない部分から、基準長さだけを抜き取る。"
表面粗さ Rz
"十点平均高さ
断面曲線から基準長さだけを抜き取った部分において、最高から5番目までの山頂の標高の平均値と、最深から5番目までの谷底の標高の平均値との差の値をマイクロメートル(μm)で表わす。"
飛行時間型二次イオン質量分析法
飛行時間型二次イオン質量分析法。超高真空下で試料に一次イオンを照射すると、資料の極表面（１～3nm）から二次イオンが放出される。二次イオンを飛行時間型（TOF型）質量分析計へ導入することで、試料最表面の質量スペクトルが得られる。この際に一次イオン照射量を低く抑えることにより、表面成分を化学構造を保った分子イオンや部分的に開裂したフラグメントイオンとして検出することができ、最表面の元素組成や化学構造の情報が得られる。TOF-SIMSとも呼ばれる
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