30 MHz〜6 GHz対応。高周波磁界測定の新定番
XFS-B 3-1は、30 MHz〜6 GHz対応の高周波磁界スキャナープローブです。90°配置のコイル構造により、狭所や大型部品周辺の磁界測定が可能で、EMC評価やノイズ源特定に最適です。
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XFS-B 3-1は、30 MHz〜6 GHz対応の高周波磁界スキャナープローブです。90°配置のコイル構造により、狭所や大型部品周辺の磁界測定が可能で、EMC評価やノイズ源特定に最適です。
XFS-B 3-1磁界スキャナプローブの測定コイルは、プローブシャフトに対して直交して配置されています。
プローブヘッドを垂直に配置することで、測定コイルがプリント基板の表面に直接接触します。これにより、スイッチングコントローラの大型部品の間など、通常はアクセスが困難なプリント基板表面の箇所でも使用できます。
XFS-B 3-1は、測定対象物から90°の角度で放射される磁界線を検出するパッシブ近傍界プローブです。プローブの横方向から入射する磁界線は検出されません。
XFS-R 3-1磁界スキャナプローブとは異なり、コイルはプローブ先端に90°の角度で配置されています。
この近傍界プローブは小型で持ち運びやすく、電流減衰シースを備えているため電気的にシールドされています。50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続できます。磁界プローブには終端抵抗が内蔵されています。
- スイッチング電源周辺の磁界測定
大型部品の隙間など、アクセスが困難な箇所の磁界分布を可視化。
- プリント基板上のノイズ源特定
高周波領域(30 MHz〜6 GHz)の磁界を検出し、EMIの発生箇所を特定。
- EMC対策の効果検証
シールド材やフィルタの設置前後で磁界強度を比較し、対策の有効性を評価。
- スペクトラムアナライザやオシロスコープとの連携測定
50Ω入力機器に直接接続して、リアルタイムで磁界強度を確認。
- 研究開発・教育用途
EMC教育や回路設計時のフィールド解析に活用。