最大40GHzの磁場を測定するためのパッシブ近接場プローブ
HR-R 8-1 セットには、HR-R 8-1 Bフィールド プローブが含まれています。これにより、40GHzまでの磁場測定が可能です。 HR近接場プローブの特殊なプローブ ヘッドにより、IC ピンまたは個々の導体トラックで直接測定を行い、Bフィールドの発生源を突き止めることができます。
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HR-R 8-1 セットには、HR-R 8-1 Bフィールド プローブが含まれています。これにより、40GHzまでの磁場測定が可能です。 HR近接場プローブの特殊なプローブ ヘッドにより、IC ピンまたは個々の導体トラックで直接測定を行い、Bフィールドの発生源を突き止めることができます。
Langer EMV-Technik GmbH が開発した HR-R 8-1 磁場プローブは、電子アセンブリと RF 構造の研究開発のための新しい測定および分析ツールです。 Industry 4.0、IoT、自動車、ロボット工学の分野で使用されています。 近接場プローブにより、トレース、個々のコンポーネント、または IC の RF 測定が可能になります。
近距離で最大 40 GHz の RF 範囲での感度を備えたパッシブ プローブにより、これまで不可能だった開発中の分析が可能になります。 HR-R 8-1 磁場プローブは、干渉の放出と隣接アセンブリへの電磁場の関連する影響に関する情報を提供します。これらの調査結果は、開発プロセスにおけるよりコスト効率の高い設計に貢献できます。
プローブの特性値を実現するために、ヘッド サイズとプローブ ヘッド内の短い信号経路の組み合わせに特に注意を払いました。 その結果、この近接場プローブは特に高い磁場感度を提供します。
●HR-R 8-1: 最大40 GHzのBフィールド・プローブ
●CS-ESA Viewer: ChipScan-ESA Viewer ソフトウェア / USB
●HR R char: HR-R 8-1 特性
●HR-R 8-1 qg: クイックガイド
●HR-R 8-1 m: ユーザーマニュアル
●ケース : システム ケースの近距離場プローブ
• 電⼦アセンブリ (PCB、IC、RF 構造) の研究開発
• コンポーネント、IC ピン、または個々の導体トラック上の B 磁場 源の局在化
• 磁場放射と隣接する電⼦機器への影響の検出
• コンポーネント (Industry 4.0、IoT、⾃動)